文献

J-GLOBAL ID：200902201814462800   整理番号：05A0492830

BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法

A Method for Diagnosing Single Stuck-at Faults by Ambiguous Test Set under BIST Environment

著者 (4件)： 高橋寛 (愛媛大 工) ,  山本幸大 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： J88-D-1  号： 6  ページ： 1029-1038  発行年： 2005年06月01日 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 組込み自己テスト(BIST)環境においては,検査結果として得...

シソーラス用語： *BIST ,...
準シソーラス用語： スキャンテスト

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

引用文献 (19件)：

• BAYRAKTAROGLU, I. Deterministic partitioning technique for fault diagnosis in scan-based BIST. Proc. Int. Test Conf., 2000. 2000, 273-282
• BAYRAKTAROGLU, I. Improved fault diagnosis in scan-based BIST via superposition. Proc. Design Automation Conf., 2000. 2000, 55-58
• WU, Y. BIST based fault diagnosis in scan-based VLSI environment. Proc. Int. Test Conf., 1996. 1996, 48-57
• WU, Y. Scan-based BIST fault diagnosis. IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. 1999, 18, 2, 203-211
• RAJSKI, J. Fault diagnosis in scan-based BIST. Proc. Int. Test Conf., 1997. 1997, 894-902

タイトルに関連する用語 (6件)： BIST ,  環境 ,  テスト ,  集合 ,  縮退故障 ,  診断法