文献

J-GLOBAL ID：200902210791215206   整理番号：07A1139619

BIST環境に適応した故障診断法に関する研究-ブリッジおよびオープン故障に対する故障診断への拡張-大規模回路への適用可能性の調査-

著者 (5件)： 高松雄三 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  山崎浩二 (明治大 情報コミュニケーション) ,  宮本俊介 (半導体理工学研究セ)
資料名： 愛媛大学産業科学技術支援センター研究成果報告書
号： 10  ページ： 30-32  発行年： 2006年11月 
JST資料番号： L5786A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： BIST環境に適応した故障診断法を開発するために,BISTに...

シソーラス用語： *BIST ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=07A1139619&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L5786A") }}

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (11件)： BIST ,  環境 ,  適応 ,  故障診断 ,  研究 ,  ブリッジ ,  オープン故障 ,  拡張 ,  大規模 ,  適用可能性 ,  調査