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J-GLOBAL ID：200902215480863729   整理番号：06A0460073

組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法

Compaction of Pass/Fail-based Diagnostic Test Vectors for Combinational and Sequential Circuits

著者 (5件)： 樋上喜信 (愛媛大) ,  SALUFA Kewal K. (ウイスコンシン大) ,  高橋寛 (愛媛大) ,  小林真也 (愛媛大) ,  高松雄三 (愛媛大)
資料名： 情報処理学会論文誌  (IPSJ Journal)
巻： 47  号： 6  ページ： 1629-1638  発行年： 2006年06月15日 
JST資料番号： Z0778A  ISSN： 0387-5806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,論理回路のテストや故障診断におけるコスト削減が重要にな...

シソーラス用語： *論理設計 ,...
準シソーラス用語： ISCAS ,...

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分類 (3件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  信頼性  (KB04040H) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

引用文献 (10件)：

• 樋上喜信, 梶原誠司, 市原英行, 高松雄三: 論理回路に対するテストコスト削減法--テストデータ量およびテスト実行時間の削減, 信学会論文誌D-1, Vol. J87-D-1, No.3, pp. 291-307(2004).
• 高橋 寛, 山本幸大, 樋上喜信, 高松雄三: BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の--診断法, 信学会論文誌D-1, Vol. J88-D-1, No.6, pp. 1029-1038(2005).
• Boppana, V. and Fuchs, W. K.: Dynamic fault collapsing and diagnostic test pattern generation for sequential circuits, Dig. Int. Conf. on Computer-Aided Design, pp. 147-154(1998).
• Guo, R., Pomeranz, I. and Reddy, S. M.: On speed-up vector restoration based static compaction of test sequences for sequential circuits, Proc. Asian Test Sympo., pp. 467-471 (Dec.1998).
• Hartanto, I., Boppana, V., Patel, J. H. and Fuchs, W. K.: Diagnostic test pattern generation for sequential circuits, Proc. VLSI Test Symp., pp. 196-202(1997).

タイトルに関連する用語 (5件)： 組合せ回路 ,  順序回路 ,  検出情報 ,  診断 ,  テスト