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J-GLOBAL ID：200902224466376377   整理番号：05A0290267

検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用

Diagnosis for Open Faults by Using Erroneous Path Tracing Based on Detecting/Un-detecting Information

著者 (4件)： 山崎浩二 (明治大 情報コミュニケーション) ,  樋上喜信 (愛媛大 工) ,  高橋寛 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 104  号： 664(DC2004 92-109)  ページ： 81-86  発行年： 2005年02月11日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 回路の微細化が進むのに伴い,信号線の断線や接続不良によって生...

シソーラス用語： *故障診断 ,...
準シソーラス用語： オープン故障 ,...

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分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (12件)：

• BAYRAKTAROGLU, I. Deterministic Partitioning Technique for Fault Diagnosis in Scan-Based BIST. Proc. ITC, 2000. 2000, 273-282
• WU, Y. BIST Based Fault Diagnosis in Scan-Based VLSI Environment. Proc. ITC, 1996. 1996, 48-57
• RAJSKI, J. Diagnosis of Scan Cells in BIST Environment. IEEE Trans. CAD. 1999, 48, 7, 724-731
• G-DASTIDAR, J. Fault Diagnosis in Scan-Based BIST Using Both Time and Space Information. Proc. ITC, 1999. 1999, 95-102
• TAKAHASHI, H. BIST Based Diagnosis Using Ambiguous Test Set. Proc. DFT, 2003. 2003, 89-96

タイトルに関連する用語 (4件)： 検出情報 ,  故障診断 ,  誤り ,  経路追跡