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J-GLOBAL ID：200902285375762826   整理番号：05A0290261

不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法

Bridging Fault Diagnosis based on Detecting/Undetecting Information of Ambiguous Test Set

著者 (6件)： 栗山和樹 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  西山隆広 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 工) ,  山崎浩二 (明治大 情報コミュニケーション) ,  高橋寛 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 104  号： 664(DC2004 92-109)  ページ： 45-49  発行年： 2005年02月11日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,BIST環境でのテスト技術が進歩しており,それに伴いB...

シソーラス用語： *故障診断 ,...
準シソーラス用語： テスト集合 ,...

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分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (12件)：

• BAYRAKTAROGLU, I. Deterministic Partitioning Technique for Fault Diagnosis in Scan-Based BIST. Proc. ITC, 2000. 2000, 273-282
• BAYRAKTAROGLU, I. Improved Fault Diagnosis in Scan-Based BIST via Superposition. Proc. DAC, 2000. 2000, 55-58
• WU, Y. BIST Based Fault Diagnosis in Scan-Based VLSI Environment. Proc. ITC, 1996. 1996, 48-57
• WU, Y. Scan-Based BIST Fault Diagnosis. IEEE Trans. CAD. 1999, 18, 2, 203-211
• RAJSKI, J. Fault Diagnosis in Scan-Based BIST. Proc. ITC, 1997. 1997, 894-902

タイトルに関連する用語 (5件)： テスト ,  集合 ,  検出情報 ,  ブリッジ故障 ,  診断法