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J-GLOBAL ID：201002282761747345   整理番号：10A0277188

抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について

Modeling resistive open faults and generating their tests

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著者 (9件)： 高橋寛 (愛媛大 大学院) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院) ,  首藤祐太 (愛媛大 大学院) ,  高棟佑司 (愛媛大 大学院) ,  高松雄三 (愛媛大 大学院) ,  堤利幸 (明治大) ,  山崎浩二 (明治大) ,  四柳浩之 (徳島大 大学院) ,  橋爪正樹 (徳島大 大学院)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 109  号： 416(DC2009 65-77)  ページ： 19-24  発行年： 2010年02月08日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： シグナルインティグリティに関する課題を解決するために,本稿では,抵抗性オープン故障検出のための拡張遅延故障モデルを提案する。まず,電磁界シミュレータによる抵抗性オープン故障の解析結果に基づいて拡張遅延故障モデルを提案する。拡張遅延故障モデルでは,故障信号線における信号変化の付加遅延量は隣接信号線の信号変化の影響を受ける。次に,ローンチオンキャプチャ方式のもとで,拡張遅延故障モデルに基づくテストパターン生成法を提案する。提案手法では,目標のオープン故障をもつ信号線の遷移故障テストパターンを利用して,抵抗性オープン故障に対するテストパターンを生成する。提案手法に対する評価実験結果から,与えられた遷移故障テストパターンでは検出できなかった抵抗性オープン故障に対するテストパターンを生成できたことを示す。(著者抄録)

シソーラス用語： *回路試験 ,  *CAD【計算機】 ,  故障検出 ,  *テストパターン ,  *モデリング ,  切断 ,  *電気故障 ,  *断線
準シソーラス用語： *テスト生成 ,  *オープン故障

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  CAD,CAM  (JE10000A)

タイトルに関連する用語 (4件)： 抵抗性 ,  オープン故障 ,  モデル化 ,  テスト生成