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J-GLOBAL ID：201302263932980784   整理番号：13A0495369

正方晶およびMPB組成のPZT膜の圧電機構の比較検討

著者 (17件)： 和田亜由美 (東京工大) ,  江原祥隆 (東京工大) ,  安井伸太郎 (東京工大) ,  中島光雅 (東京工大) ,  及川貴弘 (東京工大) ,  白石貴久 (東京工大) ,  西田謙 (防衛大) ,  西出正道 (防衛大) ,  山本孝 (防衛大) ,  小林健 (産業技術総合研) ,  森岡仁 (ブルカー・エイエックスエス) ,  坂田修身 (NIMS) ,  今井康彦 (JASRI) ,  山田智明 (名古屋大) ,  山田智明 (JST-PRESTO) ,  GRUVERMAN Alexei (Univ. Nebraska-Lincoln) ,  舟窪浩 (東京工大)
資料名： エレクトロセラミックス研究討論会講演予稿集  (エレクトロセラミックス研究討論会プログラム講演予稿集)
巻： 32nd  ページ： 12  発行年： 2012年10月26日 
JST資料番号： L8356A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ジルコニウム酸チタン酸鉛 ,  *セラミック膜 ,  正方晶系 ,  相境界 ,  *圧電気
準シソーラス用語： モルフォトロピック相境界

分類 (2件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 正方晶 ,  MPB ,  組成 ,  PZT ,  圧電 ,  比較検討