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J-GLOBAL ID：201302271722228870   整理番号：13A1855308

SAT手法による隣接線影響を考慮した微小遅延故障検査用テストパターン生成に関する一考察

著者 (5件)： 山下淳 (徳島大) ,  四柳浩之 (徳島大) ,  橋爪正樹 (徳島大) ,  樋上喜信 (愛媛大) ,  高橋寛 (愛媛大)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2013  ページ： ROMBUNNO.10-12  発行年： 2013年09月20日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *故障 ,  *テストパターン ,  発生 ,  *充足可能性問題 ,  集積回路 ,  センサ ,  試験
準シソーラス用語： テストパターン生成 ,  テスト生成 ,  *遅延故障

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： SAT ,  手法 ,  微小 ,  遅延故障 ,  検査 ,  テストパターン生成