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J-GLOBAL ID：201502294791362345   整理番号：15A0112583

0-1整数計画問題を利用した欠陥検出向けテストパターン選択法

著者 (5件)： 志田洋 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  阿萬裕久 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  SALUJA Kewal K. (ウィスコンシン大 マディソン校)
資料名： 日本信頼性学会誌  (REAJ誌)
巻： 36  号： 8  ページ： 501-510  発行年： 2014年11月01日 
JST資料番号： L2778A  ISSN： 0919-2697  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 微細化加工技術の進展に伴って,配線の物理的欠陥によって生じる多様な故障が問題となっている。多様な故障モデルを検出することを目的とした欠陥検出向けテストのために,これまでN回検出テスト集合を利用することが提案されている。しかしながら,設定された検出回数の増加に伴うテストパターン数の増加が問題である。本論文では,まず,故障励起関数に基づいて遷移故障テストパターンを評価する指針(欠陥検出確率)を提案する。次に,欠陥検出確率に基づいて,検出回数Nの値が大きなN回検出テスト集合からテストパターンを選択する手法を0-1整数計画問題として定式化する。評価実験結果から,提案法により得られたテスト集合は,テストパターン数の同じ遷移故障のN回検出テスト集合に比べて,より多様な故障モデルを検出できることを示す。(著者抄録)

シソーラス用語： *0-1整数計画法 ,  *欠陥検査 ,  *故障検出 ,  *テストパターン ,  微細加工 ,  配線 ,  モデル ,  励起関数 ,  電気故障 ,  評価試験 ,  実験 ,  故障モデル ,  評価実験
準シソーラス用語： 故障励起関数 ,  遷移故障

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (27件)：

• S.C. Ma, P. Franco, and E.J. McClusky, "An experimental chip to evaluate test techniques experimental results″, Proc. Int. Test Conf., pp.663-672, 1995.
• Y-T. Lin, O. Poku, N.K. Bhatti, R.D. Blanton, P. Lloyd, and V. Iyengar, "Physically-Aware N-Detect Test", IEEE Trans. Compu.-Aided Des. Integr. Circuits Syst., vol.31, no.2, pp.308-321, 2012.
• S. Lee, B. Cobb, J. Dworak, M.R. Grimaila, and M.R. Mercer," A new ATPG algorithm to limit test set size and achieve multiple detections of all Faults", Proc. Design, Automation and Test in Europe, 2002, pp.94-99, 2002.
• R.D. Blanton, K.N. Dwarakanath, and A.B. Shah, "Analyzing the effectiveness of multiple detect test sets″, Proc. Int. Test Conf., pp.876-885, 2003.
• B. Brnware, C. Schuermyer, S. Rangantan, R. Madge, P. Krishnamurthy, N. Tamarapalli, K-H. Tsai, and J. Rajski, "Impact of multiple-detect test patterns on product quality″, Proc. Int. Test Conf., pp.1031-1040, 2003.

タイトルに関連する用語 (4件)： 整数計画 ,  欠陥検出 ,  テストパターン ,  選択法