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J-GLOBAL ID：202302272076176688   整理番号：23A0534282

J-PARC muon g-2/EDM実験:シリコンストリップ検出器用読み出しASICのための品質検査状況

J-PARC muon g-2/EDM experiment: Quality inspection status of readout ASICs of the silicon strip detector

著者 (49件)： 山中隆志 (九大) ,  山中隆志 (Open-It) ,  青柳泰平 (東北大) ,  池野正弘 (KEK 素核研) ,  池野正弘 (Open-It) ,  上野一樹 (大阪大 理) ,  上野一樹 (Open-It) ,  梅林恵祐 (九大 理) ,  岡崎佑太 (KEK 素核研) ,  岡崎佑太 (Open-It) ,  小川真治 (九大 RCAPP) ,  小川真治 (Open-It) ,  川越清以 (九大 理) ,  岸下徹一 (KEK 素核研) ,  岸下徹一 (Open-It) ,  久米達哉 (KEK 機械工セ) ,  高力孝 (KEK 素核研) ,  高力孝 (Open-It) ,  齊藤直人 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (Open-It) ,  佐藤伸彦 (KEK 機械工セ) ,  佐藤優太郎 (新大 理) ,  佐藤優太郎 (Open-It) ,  庄子正剛 (KEK 素核研) ,  庄子正剛 (Open-It) ,  末原大幹 (九大 理) ,  末原大幹 (Open-It) ,  須田利美 (東北大) ,  清野義敬 (富山工高専) ,  千代浩司 (KEK 素核研) ,  千代浩司 (Open-It) ,  高富俊和 (KEK 機械工セ) ,  田中真伸 (KEK 素核研) ,  田中真伸 (Open-It) ,  塚田暁 (東北大) ,  東城順治 (九大 理) ,  東城順治 (Open-It) ,  西村昇一郎 (KEK 物構研) ,  西村昇一郎 (Open-It) ,  藤田陽一 (KEK 素核研) ,  藤田陽一 (Open-It) ,  本多佑記 (東北大) ,  本多良太郎 (KEK 素核研) ,  本多良太郎 (Open-It) ,  三部勉 (KEK 素核研) ,  三部勉 (Open-It) ,  吉岡瑞樹 (九大 RCAPP) ,  吉岡瑞樹 (Open-It)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 77  号： 2  ページ： ROMBUNNO.7pA421-2  発行年： 2022年09月26日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： J-PARC muon g-2/EDM実験では蓄積領域内でのミューオン崩壊から生じる陽電子の飛跡を検出するため、シリコンストリップ検出器を用いる。シリコンストリップセンサーからの信号読み...【本文一部表示】

シソーラス用語： *μ粒子 ,  *ASIC ,  電気回路 ,  *品質検査 ,  *ストリップ線路 ,  カード【形】 ,  放射線検出器 ,  *J-PARC
準シソーラス用語： *シリコン検出器 ,  プローブカード ,  読出回路

分類 (1件)： 素粒子・核物理実験計測用エレクトロニクス  (BE01020Q)

タイトルに関連する用語 (9件)： J-PARC ,  EDM ,  実験 ,  シリコン ,  ストリップ ,  検出器 ,  ASIC ,  品質検査 ,  状況