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J-GLOBAL ID：202402268599400350   整理番号：24A1646957

J-PARC muon g-2/EDM実験:シリコンストリップ検出器モジュールの組み立てにおける接着剤の塗布システムの構築と性能評価

J-PARC muon g-2/EDM experiment: Construction and testing of gluing system for assembly of silicon strip detector modules

著者 (54件)： 水取雅登 (九大 理) ,  池野正弘 (KEK 素核研) ,  池野正弘 (Open-It) ,  上野一樹 (大阪大 理) ,  上野一樹 (Open-It) ,  梅林恵祐 (九大 理) ,  岡崎佑太 (KEK 素核研) ,  岡崎佑太 (Open-It) ,  小川真治 (九大 RCAPP) ,  小川真治 (Open-It) ,  岡村麗矢 (新大) ,  川越清以 (九大 理) ,  岸下徹一 (KEK 素核研) ,  岸下徹一 (Open-It) ,  久米達哉 (KEK 機械工セ) ,  高力孝 (KEK 素核研) ,  高力孝 (Open-It) ,  齊藤直人 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (Open-It) ,  佐藤太希 (東大 理) ,  佐藤伸彦 (KEK 機械工セ) ,  佐藤優太郎 (新大 理) ,  佐藤優太郎 (Open-It) ,  庄子正剛 (KEK 素核研) ,  庄子正剛 (Open-It) ,  調翔平 (九大 理) ,  末原大幹 (東大 ICEPP) ,  末原大幹 (Open-It) ,  鈴木純一 (KEK 素核研) ,  須田利美 (東北大) ,  清野義敬 (富山工高専) ,  千代浩司 (KEK 素核研) ,  千代浩司 (Open-It) ,  高富俊和 (KEK 機械工セ) ,  田中真伸 (KEK 素核研) ,  田中真伸 (Open-It) ,  東城順治 (九大 理) ,  東城順治 (Open-It) ,  西村昇一郎 (KEK 物構研) ,  西村昇一郎 (Open-It) ,  福村省三 (新大) ,  藤田陽一 (KEK 素核研) ,  藤田陽一 (Open-It) ,  本多佑記 (東北大) ,  本多良太郎 (KEK 素核研) ,  本多良太郎 (Open-It) ,  三部勉 (Open-It) ,  山岡広 (KEK 素核研) ,  山中隆志 (九大) ,  山中隆志 (Open-It) ,  矢村昂暉 (新大) ,  吉岡瑞樹 (九大 RCAPP) ,  吉岡瑞樹 (Open-It)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 79  号： 1  ページ： ROMBUNNO.18pT3-2  発行年： 2024年03月22日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： J-PARC muon g-2/EDM実験ではミューオン崩壊で生じる陽電子の飛跡をシリコンストリップ検出器を用いて捉えることによって異常磁気能率の検証を目指す。検出器からの情報をもとに...【本文一部表示】

シソーラス用語： *実験 ,  *粒子飛跡 ,  陽電子 ,  磁気モーメント ,  *検出器 ,  モジュール ,  *接着剤 ,  塗布 ,  *位置決め
準シソーラス用語： *μ粒子EDM実験 ,  シリコンストリップ検出器 ,  ミューオン崩壊 ,  位置合せ ,  異常磁気能率

分類 (1件)： レプトン  (BF04040K)

タイトルに関連する用語 (11件)： J-PARC ,  EDM ,  実験 ,  シリコン ,  ストリップ ,  検出器 ,  モジュール ,  組み立て ,  接着剤 ,  構築 ,  性能評価