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J-GLOBAL ID：202402271127458427   整理番号：24A1646958

J-PARC muon g-2/EDM実験:シリコンストリップ検出器の冷却システムの試験

J-PARC muon g-2/EDM experiment: Test of cooling system for silicon strip detector

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著者 (55件)： 佐藤太希 (東大 理) ,  池野正弘 (KEK 素核研) ,  池野正弘 (Open-It) ,  上野一樹 (大阪大 理) ,  上野一樹 (Open-It) ,  梅林恵祐 (九大 理) ,  岡崎佑太 (KEK 素核研) ,  岡崎佑太 (Open-It) ,  岡村麗矢 (新大) ,  小川真治 (九大 RCAPP) ,  小川真治 (Open-It) ,  川越清以 (九大 理) ,  岸下徹一 (KEK 素核研) ,  岸下徹一 (Open-It) ,  久米達哉 (KEK 機械工セ) ,  高力孝 (KEK 素核研) ,  高力孝 (Open-It) ,  齊藤直人 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (Open-It) ,  佐藤伸彦 (KEK 機械工セ) ,  佐藤優太郎 (新大 理) ,  佐藤優太郎 (Open-It) ,  庄子正剛 (KEK 素核研) ,  庄子正剛 (Open-It) ,  調翔平 (九大 理) ,  末原大幹 (東大 ICEPP) ,  末原大幹 (Open-It) ,  鈴木純一 (KEK 素核研) ,  須田利美 (東北大) ,  清野義敬 (富山工高専) ,  千代浩司 (KEK 素核研) ,  千代浩司 (Open-It) ,  高富俊和 (KEK 機械工セ) ,  田中真伸 (KEK 素核研) ,  田中真伸 (Open-It) ,  東城順治 (九大 理) ,  東城順治 (Open-It) ,  西村昇一郎 (KEK 物構研) ,  西村昇一郎 (Open-It) ,  福村省三 (新大) ,  藤田陽一 (KEK 素核研) ,  藤田陽一 (Open-It) ,  本多佑記 (東北大) ,  本多良太郎 (KEK 素核研) ,  本多良太郎 (Open-It) ,  水取雅登 (九大 理) ,  三部勉 (KEK 素核研) ,  三部勉 (Open-It) ,  山岡広 (KEK 素核研) ,  山中隆志 (九大) ,  山中隆志 (Open-It) ,  矢村昂暉 (新大) ,  吉岡瑞樹 (九大 RCAPP) ,  吉岡瑞樹 (Open-It)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 79  号： 1  ページ： ROMBUNNO.18pT3-3  発行年： 2024年03月22日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

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シソーラス用語： *実験 ,...
準シソーラス用語： ASIC基板 ,...

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分類 (1件)： レプトン  (BF04040K)

タイトルに関連する用語 (8件)： J-PARC ,  EDM ,  実験 ,  シリコン ,  ストリップ ,  検出器 ,  冷却システム ,  試験