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所属機関・部署：
職名： 講師
ホームページURL (1件)： http://larissa.cs.ehime-u.ac.jp/
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愛媛大学 大学院理工学研究科 電子情報工学専攻
愛媛大学 大学院理工学研究科 電子情報工学専攻 について
職名： 講師
ホームページURL (1件)： http://larissa.cs.ehime-u.ac.jp/
研究キーワード (8件)：
テスト容易化設計
, テスト
, 集積回路
, LSIテスト及び故障診断
, フィールドテスト
, 低電力テスト
, リコンフィギャラブルコンピューティング
, ディペンダビリティコンピューティング
競争的資金等の研究課題 (9件)： - 2025 - 2028 チップレットシステムにおける経年劣化に対する信頼性と安全性強化技術について
- 2023 - 2026 構造型情報処理アーキテクチャに対するフィールドテスト法
- 2023 - 2025 チップレットシステムのライフサイクル信頼性強化設計技術
- 2022 - 2025 メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究
- 2019 - 2023 アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究
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- Hisashi Okamoto, Shaoqi Wei, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Akihiro Shimizu, Tianming Ni, Xiaoqing Wen. SASL-JTAG+: An Enhanced Lightweight and Secure JTAG Authentication Mechanism for IoT Systems with Diverse Devices. Journal of Communications. 2025. Just Accepted
- Ryusuke Yamamoto, Tatsuya Nishikawa, Keisuke Kamita, Senling Wang, Shuichi Kameyama, Hiroshi Takahashi, Hiroshi Kai, Katsumi Inoue. Binary Splitting Test Generation for a Pattern Matching Accelerator with In-Memory-Processing Architecture. The 8th International Conference on Electronics, Communications and Control Engineering (ICECC 2025). 2025. Just Accepted
- Kengo Shimizu, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Akihiro Shimizu. A Lightweight and Secure One-time RFID Authentication Protocol based on SAS-L2. IEEE The 9th International Conference On Consumer Electronics (ICCE) Asia. 2024. Just Accepted
- Ruijun Ma, Stefan Hols, Hui Xu, Xiaoqing Wen, Senling Wang, Jiuqi Li, Aibin Ya. Highly Defect Detectable and SEU-Resilient Robust Scan-Test-Aware Latch Design. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. 2024. 1-13
- Tianming Ni, Kejie Xu, Hao Wu, Senling Wang, Mu Nie. A demultiplexer-based dual-path switching true random number generator. Microelectron. J. 2024. 151. 106363-106363
- 佐々木翔也, 井手秋孝, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛. 深層強化学習を用いたテストポイント挿入法に対する特徴解析. 信学技報. 2025. 124. 374. 25-30
- 中村凌也, 清水健吾, 岡本悠, 王森レイ, 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏. 形式的検証を用いたSAS-L の安全性に関する研究. 数式処理Bulletin of JSSAC (2024). 2024. 1-4
- 森 創太, 王森レイ†, 甲斐 博, 高橋 寛, 森井 昌克. ホログラムQR コードの拡張. 第23回情報科学技術フォーラム(FIT2024). 2024. CO. 001. 85-90
- 中村 凌也, 清水 健吾, 岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水 明宏. SV 攻撃に耐性のあるSAS-L2 の安全性評価. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会. 2024. 16. 2. 153-153
- 光家 遥香, 甲斐, 博, 王森レイ 高橋. マルウェア亜種の機能推定における Temporal Bias の影響に関する研究. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会. 2024. 16. 1. 152-152
書籍 (2件)：
- 基礎情報科学
学術図書出版社 2024 - Three Dimensional Integration of Semiconductors
Springer International Publishing Switzerland 2015 ISBN:9783319186740
-
Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST: From Heuristics to Deep Learning Algorithm
(2024可信系统与芯片前沿技术研讨会 暨CCF走进合肥工业大学活动 2024) -
Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST: From Heuristics to Deep Learining Algorithm
(2024 Southeast Forum on AI and EDA (AIEDA-2024) 2024) -
Automotive Functional Safety Assurance with Multi-cycle POST
(The 1st Workshop on Emerging Test Technologies Workshop on Automotive Functional Safety (ETT-FuSa'23) 2023) -
サイバーフィジカルシステムにおけるセキュリティ脅威と対策について
(バウンダリスキャン研究会 2022年度公開研究会 2022) -
JTAGにおけるセキュリティ脅威とその対策に関する調査
(エレクトロニクス実装学会 バウンダリスキャン研究会 2021)
- 2011 - 2014 九州工業大学 大学院情報工学府 博士後期課程(日本政府国費留学生)
- 2009 - 2011 九州工業大学 大学院情報工学府 博士前期課程
- 博士 (九州工業大学)
- 2020/04 - 現在 新居浜工業高等専門学校 電子制御工学科 非常勤講師
- 2019/12 - 現在 愛媛大学工学部社会基盤iセンシングセンター 講師(兼任)
- 2019/04 - 現在 国立新居浜工業高等専門学校 環境材料工学科 非常勤講師
- 2017/04 - 現在 愛媛大学 大学院理工学研究科 特任講師
- 2014/04 - 2017/03 愛媛大学 理工学研究科 助教
- 2021/01 - 現在 DAシンポジウム2021 -システムとLSIの設計技術- 実行委員会(広報委員)
- 2021/01 - 現在 情報処理学会 SLDM研究会 運営委員
- 2020/06 - 現在 IEEE WRTLT Program Committee Program 委員
- 2020/06 - 現在 IEEE Asian Test Symposium Program 委員
- 2020/04 - 現在 DAシンポジウム2022 プログラム委員会委員
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- 2024/07 - 国立愛媛大学工学部 工学部教育貢献賞
- 2021/04 - 愛媛大学工学部情報工学科 教育貢献賞
- 2020 - IEEE CASS IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award
- 2018/04 - 愛媛大学工学部情報工学科 教育貢献賞
- 2014/08 - 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター The 4th IEEE SSCS Japan Chapter VDEC Design Award
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※ J-GLOBALの研究者情報は、researchmapの登録情報に基づき表示しています。 登録・更新については、こちらをご覧ください。
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