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J-GLOBAL ID：200902240325533644   整理番号：05A0841763

ナノ材料・表面の原子構造・機能評価-STMをベースにした新規計測手法の開発とその応用-

著者 (13件)： 桑原裕司 (大阪大 大学院) ,  桑原裕司 (JST-ICORP) ,  桑原裕司 (理研 播磨研) ,  有馬健太 (大阪大 大学院) ,  赤井恵 (大阪大 大学院) ,  赤井恵 (JST-ICORP) ,  斉藤彰 (大阪大 大学院) ,  斉藤彰 (JST-ICORP) ,  斉藤彰 (理研 播磨研) ,  遠藤勝義 (大阪大 大学院) ,  青野正和 (JST-ICORP) ,  青野正和 (理研 播磨研) ,  青野正和 (物材機構 ナノマテ研)
資料名： 精密工学会大会学術講演会講演論文集  (精密工学会大会シンポジウム資料集)
巻： 2005  号： 秋季(資料)  ページ： 112-115  発行年： 2005年09月01日 
JST資料番号： Y0914A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： ナノ構造 ,...

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分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

引用文献 (15件)：

• BINIG, G. Phys. Rev. Lett. 1982, 49, 57
• OKAWA, Y. Nature. 2001, 409, 683
• AKAI-KASAYA, M. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 255501
• 桑原裕司. 応用物理. 2003, 72, 1291
• TAKAMI, K. Jpn. J. Appl. Phys. 2005, 44, L120

タイトルに関連する用語 (8件)： ナノ材料 ,  原子構造 ,  機能評価 ,  STM ,  計測 ,  手法 ,  開発 ,  応用