特許
J-GLOBAL ID:200903000950222749
磁性メモリ及びその製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
工藤 実 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-109166
公開番号(公開出願番号):特開2002-305290
出願日: 2001年04月06日
公開日(公表日): 2002年10月18日
要約:
【要約】【課題】 メモリセルに含まれる強磁性体膜の酸化を抑制しながら、磁性メモリのメモリセルを形成する技術を提供する。【解決手段】 本発明による磁性メモリの製造方法は、金属強磁性体により磁性体膜(6)を基板(1)の上面側に形成することと、無機物により磁性体膜(6)の上面に接触する無機物膜(7、8)を形成することと、無機物膜(7、8)の上面に、レジストによりレジストパターン(9)を形成することと、レジストパターン(9)をマスクとして無機物膜(7、8)をエッチングし、マスクパターン(7’、8’)を形成することと、レジストパターン(9)を除去することと、レジストパターンが除去された後、マスクパターン(7’、8’)をマスクとして磁性体膜(6)をエッチングすることとを備えている。磁性体膜(6)のうちマスクパターン(7’、8’)と接触する接触部分は、レジストパターンの除去の際に露出されず、従って、その接触部分は酸化されにくい。
請求項(抜粋):
磁性体膜からなる磁性メモリの製造方法において、ハードマスクをマスクとして使用することにより前記磁性体膜をパターニングすることを特徴とする磁性メモリの製造方法。
IPC (6件):
H01L 27/105
, H01F 10/16
, H01F 10/30
, H01F 41/18
, H01L 43/08
, H01L 43/12
FI (6件):
H01F 10/16
, H01F 10/30
, H01F 41/18
, H01L 43/08 Z
, H01L 43/12
, H01L 27/10 447
Fターム (20件):
5E049AA01
, 5E049AA04
, 5E049AA07
, 5E049AC05
, 5E049BA06
, 5E049CB02
, 5E049DB12
, 5E049FC01
, 5E049GC01
, 5F083FZ10
, 5F083GA27
, 5F083GA30
, 5F083JA36
, 5F083JA37
, 5F083JA40
, 5F083JA60
, 5F083PR03
, 5F083PR07
, 5F083PR10
, 5F083PR22
引用特許:
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