特許
J-GLOBAL ID：200903001979403056
偏光解析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
亀井 弘勝 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-013863
公開番号（公開出願番号）：特開平11-211654
出願日： 1998年01月27日
公開日（公表日）： 1999年08月06日
要約：
【要約】【課題】測定時に偏光子の回転が必要でなく短時間で測定でき、かつ、構造が簡単な偏光解析装置を実現する。【解決手段】3種以上の固定された偏光素子6a〜6dを組み合わせ、それぞれの偏光素子6a〜6dを通り、集光された光束を分光器9でそれぞれ同時に分光し、複数のスペクトルとして検出し、装置定数G又はAを使用して偏光解析演算を行う。
請求項（抜粋）：
試料光を複数の異なる偏光成分に分離して、各偏光成分を測定する偏光解析装置において、3種以上の検光子を組み合わせた検光手段と、光束分離集光光学系と、集光された複数光束をそれぞれ同時に分光する分光器と、複数のスペクトルを同時に検出することのできる検出器と、偏光解析演算を行う演算処理部とを有することを特徴とする偏光解析装置。
IPC (3件)：
G01N 21/21
, G01B 11/00
, G01J 4/04
G01N 21/21 Z
, G01B 11/00 Z
, G01J 4/04
