特許
J-GLOBAL ID:200903002449959149

渦電流探傷装置および渦電流探傷方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 藤田 考晴 ,  上田 邦生
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-156435
公開番号(公開出願番号):特開2008-309573
出願日: 2007年06月13日
公開日(公表日): 2008年12月25日
要約:
【課題】信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別して検査精度の向上を図ること。【解決手段】通常型プローブ11と、磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型プローブ13とを具備し、分析装置21により、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13による同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
渦電流探傷プローブと、 磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型渦電流探傷プローブと、 前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する分析手段と を具備する渦電流探傷装置。
IPC (1件):
G01N 27/90
FI (1件):
G01N27/90
Fターム (6件):
2G053AA11 ,  2G053AB21 ,  2G053BC02 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CB25
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (10件)
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