特許
J-GLOBAL ID:200903002479273128

接着部材及び半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三好 秀和 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-152333
公開番号(公開出願番号):特開2003-347323
出願日: 2002年05月27日
公開日(公表日): 2003年12月05日
要約:
【要約】【課題】 F-BGA、BOC構造のCSPにおいて、テ-プ基板の非配線面との接着性が良好で、吸湿処理前後における高温接着力が良好であり、また良好な耐はんだリフロ-性を確保する接着部材を提供するものである。【解決手段】 接着剤層を有する接着部材であって、90 ゚ピ-ル強度測定を265°Cで行った際の半導体パッケ-ジ用基板に対する前記接着部材の接着力が30N/m以上であり、かつ吸湿処理(温度85°C、湿度85%及び保持時間12時間)前後の半導体パッケ-ジ用基板に対する前記接着部材の接着力の比率(吸湿処理後の接着力/吸湿処理前の接着力)が0.8以上である接着部材。
請求項(抜粋):
接着剤層を有する接着部材であって、90 ゚ピ-ル強度測定を265°Cで行った際の半導体パッケ-ジ用基板に対する前記接着部材の接着力が30N/m以上であり、かつ吸湿処理(温度85°C、湿度85%及び保持時間12時間)前後の半導体パッケ-ジ用基板に対する前記接着部材の接着力の比率(吸湿処理後の接着力/吸湿処理前の接着力)が0.8以上である接着部材。
IPC (8件):
H01L 21/52 ,  C09J 7/02 ,  C09J133/14 ,  C09J163/00 ,  C09J179/08 ,  C09J201/00 ,  H01L 23/12 501 ,  H01L 23/12
FI (8件):
H01L 21/52 E ,  C09J 7/02 Z ,  C09J133/14 ,  C09J163/00 ,  C09J179/08 Z ,  C09J201/00 ,  H01L 23/12 501 S ,  H01L 23/12 501 W
Fターム (42件):
4J004AA10 ,  4J004AA11 ,  4J004AA13 ,  4J004BA02 ,  4J004CE01 ,  4J004EA05 ,  4J004FA05 ,  4J004FA08 ,  4J040DF001 ,  4J040DF002 ,  4J040DF061 ,  4J040EC001 ,  4J040EC061 ,  4J040EC071 ,  4J040ED002 ,  4J040EE062 ,  4J040EH031 ,  4J040EJ012 ,  4J040EJ022 ,  4J040EL052 ,  4J040GA11 ,  4J040HB22 ,  4J040HC01 ,  4J040HC10 ,  4J040HC15 ,  4J040HC23 ,  4J040HD21 ,  4J040HD38 ,  4J040JA09 ,  4J040JB09 ,  4J040KA16 ,  4J040KA17 ,  4J040KA38 ,  4J040KA42 ,  4J040LA06 ,  4J040LA08 ,  4J040MA10 ,  4J040NA20 ,  4J040PA23 ,  5F047BA33 ,  5F047BA34 ,  5F047BB03
引用特許:
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る