特許
J-GLOBAL ID：200903002736689667

印刷はんだ検査装置

発明者：
木村 剛

木村 剛 について

, 
辻村 映治

辻村 映治 について


出願人/特許権者：
アンリツ株式会社

アンリツ株式会社 について


代理人 (1件)： 三澤 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-167287
公開番号（公開出願番号）：特開2006-343152
出願日： 2005年06月07日
公開日（公表日）： 2006年12月21日
要約：
【課題】 測定されたはんだの形状を表す形状値の分布を認識しつつ、操作者が定量的に判断しながら、容易に判定の基準値(許容値)等を設定できる技術の提供する。【解決手段】 測定手段2により、複数のプリント板に印刷された複数はんだ箇所のはんだ状態を測定し、その測定値を基に、ヒストグラム算出手段5aによりはんだ状態を量として表す形状値の度数分布を求め、表示制御手段6によって、表示手段7に度数分布を表示させるとともに、可変入力された分布範囲を視認可能に表示させる。そして、NG率算出手段5bが、度数分布に対する、分布範囲外の不良率又は前記分布範囲内の良率を算出する構成とし、所望の分布範囲(許容値)を確定できる構成とした。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
1又は複数のプリント板に印刷された複数はんだ箇所のはんだ状態を測定するための測定手段(2)と、前記測定手段が出力する測定値を基に前記はんだ状態を量として表わされた形状値の度数分布を求めるヒストグラム算出手段(5a)と、可変入力された分布範囲を受けて、前記度数分布に対する、前記分布範囲外の不良率又は前記分布範囲内の良率を算出するNG率算出手段(5b)と、表示手段(7)と、前記度数分布、前記入力された分布範囲、及び前記不良率もしくは良率を視認可能に表示させる表示制御手段(6)と、を備えたことを特徴とする印刷はんだ検査装置。
IPC (3件)：
G01B 21/02 ,  G01N 21/956 ,  H05K 3/34
FI (3件)：
G01B21/02 A ,  G01N21/956 B ,  H05K3/34 512B
Fターム (26件)：
2F069AA06 ,  2F069AA42 ,  2F069BB14 ,  2F069BB40 ,  2F069DD15 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07 ,  2F069GG11 ,  2F069GG62 ,  2F069HH09 ,  2F069JJ07 ,  2F069NN08 ,  2F069NN25 ,  2F069QQ12 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051BA10 ,  2G051CA01 ,  2G051EC01 ,  2G051EC02 ,  2G051FA01 ,  5E319AA03 ,  5E319BB05 ,  5E319CD26 ,  5E319CD53 ,  5E319GG15
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 特許3537382号公報
審査官引用 (6件)
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