特許
J-GLOBAL ID：200903087674122113

プリント基板検査装置

発明者：
中村 光男

中村 光男 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  坂口 智康 ,  内藤 浩樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-367082
公開番号（公開出願番号）：特開2005-135954
出願日： 2003年10月28日
公開日（公表日）： 2005年05月26日
要約：
【課題】 クリーム半田印刷検査装置の検査判定値の設定において、実装された完成品プリント基板の良否判定状態を考慮して動的に検査判定基準を変更させる。【解決手段】 基板IDにより半田付け不良に該当するはんだ印刷検査結果を抽出して表示する基板結果表示部8と、その検査結果に対して電子部品を実装したプリント基板での半田付け不良情報を入力する半田付け不良入力部9と、印刷基板と完成品基板と半田付け不良情報をリンクして不良情報を表示する計測データ分布グラフ表示部10を有し、完成プリント基板の不良情報を加味して印刷基板の検査判定値を更新する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
クリーム半田を印刷した印刷基板の良否を検査するクリーム半田印刷検査装置と、前記印刷基板の検査データを受信し検査解析を行う検査解析装置とを有し、 前記検査解析装置は、前記クリーム半田印刷検査装置からのクリーム半田印刷の検査結果データを記憶する検査結果データ記憶部と、前記印刷基板に部品を実装したプリント基板の半田不良箇所の半田付け不良情報を入力する半田付け不良入力部と、前記検査結果データ記憶部から前記半田不良箇所を有するプリント基板に対応する印刷基板の検査結果データと関連づけて表示する基板結果表示部と、前記検査結果データの分布をグラフ表示する計測データ分布グラフ表示部とを備えたプリント基板検査装置。
IPC (1件)：
H05K3/34
FI (2件)：
H05K3/34 512A ,  G01B11/24 K
Fターム (15件)：
2F065AA58 ,  2F065BB02 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065CC28 ,  2F065FF04 ,  2F065QQ23 ,  2F065RR03 ,  2F065SS04 ,  2F065SS13 ,  5E319BB05 ,  5E319CD29 ,  5E319CD53 ,  5E319GG15 ,  5E319GG20
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 実装基板生産システム
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-009366   出願人：松下電器産業株式会社
  • 実装システム
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-169980   出願人：イビデン株式会社
審査官引用 (4件)
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