遅延クロック生成装置及び半導体試験装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：龍華明裕
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-141282
公開番号（公開出願番号）：特開2001-033529
出願日： 2000年05月15日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
要約：

【要約】【課題】高分解能遅延部16が生成する遅延量を小さくする。【解決手段】所定の遅延量より短い基準クロックの周期の整数倍の遅延量を生成する周期遅延部と、周期遅延部が生成した遅延量に基準クロックの半周期の遅延量を加えるか否かを設定する半周期遅延部と、周期遅延部及び半周期遅延部が生成した遅延量と所定の遅延量との差分の遅延量を、周期遅延部及び半周期遅延部が生成した遅延量に加える高分解能遅延部とを備える。

請求項（抜粋）：

所定の遅延量を有する遅延クロックを生成する遅延クロック生成装置であって、前記所定の遅延量より短い基準クロックの周期の整数倍の遅延量を生成する周期遅延部と、前記基準クロックの半周期の遅延量を生成する半周期遅延部と、前記周期遅延部及び前記半周期遅延部が生成した遅延量の和と前記所定の遅延量との差分の遅延量を、前記周期遅延部及び前記半周期遅延部が生成した遅延量に加える高分解能遅延部とを備えることを特徴とする遅延クロック生成装置。

IPC (3件)：

G01R 31/3183 , G06F 1/06 , H03K 5/135

FI (3件)：

G01R 31/28 Q , H03K 5/135 , G06F 1/04 312 A

引用特許：

審査官引用 (11件)

パルス遅延回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-006175 出願人：株式会社日立製作所
半導体試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-258304 出願人：株式会社アドバンテスト
論理集積回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-040287 出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立超エル・エス・アイ・システムズ

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