特許
J-GLOBAL ID：200903006565694697

放射線検出器

発明者：
的場 吉毅

的場 吉毅 について

, 
木村 一彦

木村 一彦 について


出願人/特許権者：
セイコーインスツルメンツ株式会社

セイコーインスツルメンツ株式会社 について


代理人 (1件)： 坂上 正明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-150563
公開番号（公開出願番号）：特開2003-344548
出願日： 2002年05月24日
公開日（公表日）： 2003年12月03日
要約：
【要約】【課題】 エネルギー分解能が良く、広いエネルギー範囲にわたって検出効率が高い測定を1台の検出器で実現する放射線検出器の提供。【解決手段】 Si半導体からなる放射線検出素子と、CdZnTeもしくはCdTe半導体からなる放射線検出素子を縦に二重に並べる構成とした。ここで、Si半導体からなる放射線検出素子を放射線の入射側に第一層とし、CdZnTeもしくはCdTe半導体からなる放射線検出素子を第二層として配置する。
請求項（抜粋）：
Si半導体からなる第一の放射線検出素子と、CdZnTeまたはCdTe半導体からなる第二の放射線検出素子とを備え、前記第一の放射線検出素子と前記第二の検出素子とは、放射線の入射側に第一の放射線検出素子となるように重ねて形成したことを特徴とする、放射線検出器。
IPC (2件)：
G01T 1/24 ,  H01L 31/09
FI (2件)：
G01T 1/24 ,  H01L 31/00 A
Fターム (10件)：
2G088EE29 ,  2G088FF02 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ09 ,  5F088AA03 ,  5F088AB03 ,  5F088AB09 ,  5F088BB06 ,  5F088JA20 ,  5F088LA08
引用特許：
審査官引用 (11件)
  • 半導体放射線検出装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-047576   出願人：セイコーインスツルメンツ株式会社
  • 放射線検出器
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-269438   出願人：アロカ株式会社
  • 特開平2-259590
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