特許
J-GLOBAL ID：200903006805533173
X線検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
小野 由己男
, 加藤 秀忠
, 元山 雅史
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-254533
公開番号（公開出願番号）：特開2006-071423
出願日： 2004年09月01日
公開日（公表日）： 2006年03月16日
要約：
【課題】 X線画像における背景の部分を正確に特定して補正を行うことで高精度な異物検出を行うことが可能なX線検査装置を提供する。【解決手段】 X線検査装置10では、制御コンピュータ20が、X線ラインセンサ14における検出結果に基づいてX線画像を形成し、このX線画像に基づいて異物混入の検査を行う装置において、全体のX線画像における各部の明るさを抽出して背景部分と思われる部分を特定する。制御コンピュータ20は、背景部分として特定された部分と、X線ラインセンサ14の1ライン分に相当するX線画像の部分の最大明るさとを比較して、その1ライン分に相当するX線画像の部分の補正の可否を決定する。【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
物品に対してX線を照射し、その透過量を検出して前記物品の検査を行うX線検査装置であって、
前記物品に対してX線を照射する照射部と、
前記照射部から前記物品に対して照射されたX線の透過量を検出するラインセンサと、
前記ラインセンサにおいて1ライン分ごとに得られた透過量に基づいてX線画像を作成する画像形成部と、
前記1ライン分のX線画像を組み合わせた全体のX線画像における各部の明るさを抽出して背景部分を特定する背景特定部と、
前記背景特定部によって特定された背景部分の明るさに基づいて前記X線画像を1ライン分ごとに補正する補正部と、
を備えているX線検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (20件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA08
, 2G001FA01
, 2G001FA06
, 2G001FA09
, 2G001FA30
, 2G001HA07
, 2G001HA10
, 2G001HA13
, 2G001JA09
, 2G001JA13
, 2G001JA16
, 2G001KA03
, 2G001KA05
, 2G001LA01
, 2G001PA03
, 2G001PA11
, 2G001SA13
出願人引用 (1件)
-
X線検査装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平9-011576
出願人：株式会社島津製作所
審査官引用 (11件)
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