特許
J-GLOBAL ID:200903008088832341
地盤の調査方法及び装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
市東 篤 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-102489
公開番号(公開出願番号):特開2002-296189
出願日: 2001年03月30日
公開日(公表日): 2002年10月09日
要約:
【要約】【課題】地盤の構成物質を短時間で正確に検出できる調査方法及び装置を提供する。【解決手段】地盤1の被調査部位2にレーザ光6を照射してアブレーションによるプラズマ7を発生させ、プラズマ7の発光のスペクトル強度分布10により被調査部位2の地盤構成物質を検出する。地盤1にボーリング孔3を穿ち、ボーリング孔3の入口から孔内の被調査部位2まで導波路9を挿入し、導波路9経由でレーザ光6を被検査部位2に照射し且つ被検査部位2で発生したプラズマ7の発光をボーリング孔3の入口まで導き前記地盤構成物質の検出に供することができる。例えば、スペクトル強度分布10中の汚染物質成分のスペクトル強度に基づき被調査部位2の汚染を調査する。また、岩盤種類が既知の参照岩盤のスペクトル強度分布15を求め、被調査部位2のスペクトル強度分布10と参照岩盤のスペクトル強度分布15とにより被調査部位2の岩盤種類を調査する。
請求項(抜粋):
地盤の被調査部位にレーザ光を照射してアブレーションによるプラズマを発生させ、該プラズマの発光のスペクトル強度分布により前記被調査部位の地盤構成物質を検出してなる地盤の調査方法。
IPC (5件):
G01N 21/71
, E21B 7/15
, E21D 9/00
, E21D 9/10
, G01V 8/10
FI (5件):
G01N 21/71
, E21B 7/15
, E21D 9/00 Z
, E21D 9/10 Z
, G01V 9/04 U
Fターム (24件):
2D054GA15
, 2D054GA82
, 2D054GA92
, 2G043AA01
, 2G043BA01
, 2G043BA04
, 2G043BA05
, 2G043CA05
, 2G043EA10
, 2G043GA02
, 2G043GA04
, 2G043GB01
, 2G043GB03
, 2G043HA03
, 2G043HA05
, 2G043JA05
, 2G043KA01
, 2G043KA02
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043MA01
, 2G043NA01
, 2G043NA06
引用特許:
引用文献:
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