特許
J-GLOBAL ID:200903009418951349
光走査型共焦点観察装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
上田 邦生
, 藤田 考晴
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-243567
公開番号(公開出願番号):特開2006-064384
出願日: 2004年08月24日
公開日(公表日): 2006年03月09日
要約:
【課題】 低倍率かつ高開口数の対物レンズを使用した場合においても、試料から戻る蛍光を無駄なく回収し、時間的な分解能を低下させることなく、高い解像度の蛍光画像を得る。【解決手段】 光源2と、光源2からの励起光を2次元的に走査する光走査部14と、走査された励起光を集光して試料に照射する対物光学系5と、該対物光学系5と光走査部14との間に配置され、対物光学系5を介して戻る試料Aからの戻り光から蛍光を分離するダイクロイックミラー17と、分離された蛍光を集光して中間像を形成する集光レンズ18と、中間像位置近傍に配置され、複数の平行なスリット状の蛍光透過部と遮光部とを交互に配列してなるスリット部材19と、該スリット部材19を蛍光透過部と遮光部との配列方向に移動させるスリット部材移動機構28と、スリット部材19の蛍光透過部を通過した蛍光を検出する光検出器21とを備える光走査型共焦点観察装置1を提供する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
励起光を出射する光源と、
光源からの励起光を2次元的に走査する光走査部と、
該光走査部により走査された励起光を集光して試料に照射する対物光学系と、
該対物光学系と前記光走査部との間に配置され、対物光学系を介して戻る試料からの戻り光から蛍光を分離するダイクロイックミラーと、
分離された蛍光を集光して中間像を形成する集光レンズと、
該集光レンズによる中間像位置近傍に配置され、複数の平行なスリット状の蛍光透過部と遮光部とを交互に配列してなるスリット部材と、
該スリット部材を蛍光透過部と遮光部との配列方向に移動させるスリット部材移動機構と、
前記スリット部材の蛍光透過部を通過した蛍光を検出する光検出器とを備える光走査型共焦点観察装置。
IPC (4件):
G01N 21/64
, G02B 21/00
, G02B 26/02
, G02B 26/10
FI (4件):
G01N21/64 Z
, G02B21/00
, G02B26/02 B
, G02B26/10 C
Fターム (31件):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043GA04
, 2G043GB01
, 2G043GB19
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA05
, 2G043JA01
, 2G043LA02
, 2G043LA03
, 2G043NA13
, 2H041AA06
, 2H041AB04
, 2H041AC04
, 2H041AZ05
, 2H045AB38
, 2H045AB62
, 2H045BA12
, 2H045DA31
, 2H052AA07
, 2H052AA08
, 2H052AA09
, 2H052AC04
, 2H052AC12
, 2H052AC15
, 2H052AC27
, 2H052AC34
引用特許:
出願人引用 (12件)
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特開平3-87804号公報(第2頁等)
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蛍光コンフオーカル顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-260488
出願人:株式会社ニコン
-
顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-245579
出願人:株式会社ニコン
-
レーザ顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-060577
出願人:オリンパス光学工業株式会社
-
複数の光源を備えた顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-168441
出願人:株式会社キーエンス
-
多光子レーザ顕微鏡法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-229511
出願人:コーネル・リサーチ・ファンデーション・インコーポレイテッド
-
リニアスキャン型共焦点表面形状計測装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-051159
出願人:株式会社高岳製作所
-
共焦点光スキャナ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-181455
出願人:横河電機株式会社
-
特表平5-506318
-
顕微鏡観察装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-201174
出願人:レーザーテツク株式会社
-
走査型レーザー顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-380386
出願人:オリンパス光学工業株式会社
-
レーザ走査式細胞分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-292506
出願人:オムロン株式会社
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審査官引用 (10件)
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顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-245579
出願人:株式会社ニコン
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レーザ顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-060577
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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複数の光源を備えた顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-168441
出願人:株式会社キーエンス
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多光子レーザ顕微鏡法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-229511
出願人:コーネル・リサーチ・ファンデーション・インコーポレイテッド
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リニアスキャン型共焦点表面形状計測装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-051159
出願人:株式会社高岳製作所
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共焦点光スキャナ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-181455
出願人:横河電機株式会社
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特表平5-506318
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顕微鏡観察装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-201174
出願人:レーザーテツク株式会社
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走査型レーザー顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-380386
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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レーザ走査式細胞分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-292506
出願人:オムロン株式会社
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