特許
J-GLOBAL ID：200903010090320093
テストパターン圧縮方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-138793
公開番号（公開出願番号）：特開平9-318711
出願日： 1996年05月31日
公開日（公表日）： 1997年12月12日
要約：
【要約】【課題】 ダブルディテクションでは多くの並べ換えが必要で、故障シミュレーションを行う回数が多く、テストパターン圧縮のために時間がかかる。【解決手段】 検出しようとする故障が検出されるまでテストパターンの故障シミュレーションを行い、故障シミュレーションを行ったテストパターン夫々について、そのテストパターンを含めn(nは正整数)個のテストパターンでしか検出できない故障の数であるnチェックを求め、nが小なるものを優先させてnチェックの値が大なる順に上記故障シミュレーションを行ったテストパターンを並べ換え、故障シミュレーションを繰り返してテストパターン数を圧縮する。これにより、他の故障も付随的に検出しテストパターン数を減少でき、並べ換え回数及び故障シミュレーション回数を減少できる。
請求項（抜粋）：
回路をテストするためのテストパターンの数を圧縮するテストパターン圧縮方法において、検出しようとする故障が検出されるまでテストパターンの故障シミュレーションを行い、上記故障シミュレーションを行ったテストパターン夫々について、そのテストパターンを含めn(nは正整数)個のテストパターンでしか検出できない故障の数であるnチェックを求め、nが小なるものを優先させてnチェックの値が大なる順に上記故障シミュレーションを行ったテストパターンを並べ換え、上記故障シミュレーションを繰り返してテストパターン数を圧縮することを特徴とするテストパターン圧縮方法。
引用特許：
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