特許
J-GLOBAL ID：200903010484773999

3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置

発明者：
野坂 健一郎

野坂 健一郎 について

, 
中原 智治

中原 智治 について


出願人/特許権者：
松下電工株式会社

松下電工株式会社 について


代理人 (3件)： 板谷 康夫 ,  田口 勝美 ,  水田 愼一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-083049
公開番号（公開出願番号）：特開2008-241483
出願日： 2007年03月27日
公開日（公表日）： 2008年10月09日
要約：
【課題】3次元計測方法及びそれを用いた装置において、撮像のボケによる影響を排除して計測領域における3次元形状を高速且つ高精度に計測できるようにすることで、計測領域における識別性能を向上させる。【解決手段】計測対象物の計測領域における画像から得られる輝度値分布を縞パターンに直交する方向に微分した輝度微分値と、計測対象物の反射率の差異が縞パターンから得られる位相値に及ぼす影響を補正するための位相補正値との補正関係を予め求めておき、計測対象物に所定の光を投影して撮像し、所定の撮像画像を取得する処理(S1)と、画像の輝度についての微分画像を生成する処理(S2)と、縞パターンの位相値を算出する処理(S3)と、撮像のボケによる縞パターンの位相値の誤差を補正する処理(S4)と、撮像画像の画素の位置について、3次元座標を計算する処理とを実行させることで、計測領域における3次元形状を計測する。【選択図】図11
請求項（抜粋）：
計測対象物に縞パターンを当該縞パターンの位相をシフトさせて複数回投影して撮像する位相シフト法を用いることにより、計測対象物が複数の反射率を有する場合の計測対象物の計測領域における3次元形状を計測する3次元計測方法であって、 前記計測領域における画像から得られる輝度値分布を縞パターンに直交する方向に微分した輝度微分値と、計測対象物の反射率の差異が縞パターンから得られる位相値に及ぼす影響を補正するための位相補正値との補正関係を予め求めておき、 3次元形状を計測する際に、前記計測領域から輝度微分値を算出し、前記補正関係から得られる位相補正値に基づいて前記反射率の差異による影響を受けた位相値を補正し、前記補正された位相値を、位相シフト法を用いて計算を行うことにより、前記計測領域における3次元形状を計測することを特徴とする3次元計測方法。
IPC (3件)：
G01B 11/25 ,  G06T 1/00 ,  G06T 5/20
FI (4件)：
G01B11/25 H ,  G06T1/00 315 ,  G06T5/20 C ,  G06T5/20 B
Fターム (38件)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD04 ,  2F065DD09 ,  2F065FF01 ,  2F065FF07 ,  2F065HH06 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL33 ,  2F065LL53 ,  2F065NN08 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR07 ,  2F065SS03 ,  2F065UU01 ,  2F065UU05 ,  5B057BA02 ,  5B057BA15 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CC02 ,  5B057CE03 ,  5B057CE05 ,  5B057CE06 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (3件)

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