特許
J-GLOBAL ID:200903010769796836
ペリクルフレーム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
荒井 鐘司
, 河野 尚孝
, 嶋崎 英一郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-188706
公開番号(公開出願番号):特開2009-025559
出願日: 2007年07月19日
公開日(公表日): 2009年02月05日
要約:
【課題】 マスクが完成した後にペリクルを貼り付けても、マスクの平坦度を悪化させることの少ないペリクルフレームを提供する。【解決手段】 本発明のペリクルフレームは、半導体リソグラフィーに使用されるペリクルにおいて、ペリクルフレームのヤング率が100GPa以上である材料を用いることを特徴とする。また、半導体リソグラフィーに使用されるペリクルにおいて、そのペリクルフレームの平坦度が15μm以下であることを特徴とする。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
半導体リソグラフィーに使用されるペリクルにおいて、ペリクルフレームのヤング率が100GPa以上である材料を用いることを特徴とするペリクルフレーム。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (3件):
2H095BA01
, 2H095BC36
, 2H095BC37
引用特許:
出願人引用 (4件)
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特開昭58-219023号公報
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米国特許第4861402号明細書
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特公昭63-27707号公報
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リソグラフィー用ペリクル
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-311913
出願人:信越化学工業株式会社
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審査官引用 (6件)
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