特許
J-GLOBAL ID：200903011545866355
マルチポ-トデバイス解析装置及び解析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-047696
公開番号（公開出願番号）：特開2000-162257
出願日： 1999年02月25日
公開日（公表日）： 2000年06月16日
要約：
【要約】【課題】 3個以上の入出力端子を有したマルチポートデバイスの特性を解析するためのマルチポートデバイス解析装置。【解決手段】 このマルチポートデバイス解析装置は、一方のポートから試験信号を送出し、他方ののポートから入力信号を受信するように構成され、被試験デバイスの特性をベクトル値で解析するネットワークアナライザと、そのネットワークアナライザの上記ポートに接続され、内部のスイッチにより、ネットワークアナライザのそれらポートを3個以上のポートに変換するマルチポートテストセットとを有し、被試験マルチポートデバイスをそのマルチポートテストセットに変換器を介さずに接続して、そのデバイスの特性データをベクトル値で解析する。
請求項（抜粋）：
3個以上の端子を有するマルチポートデバイスを試験するためのマルチポートデバイス解析装置において、一方のポートから試験信号を送出し、他方のポートから入力信号を受信するように構成され、被試験デバイスの特性をベクトル値で解析するネットワークアナライザと、そのネットワークアナライザの上記ポートに接続され、内部のスイッチにより、ネットワークアナライザのそれらポートを3個以上のポートに変換するマルチポートテストセットとを有し、被試験マルチポートデバイスをそのマルチポートテストセットに直接的に接続して、そのデバイスの特性データをベクトル値で解析することを特徴とするマルチポートデバイス解析装置。
Fターム (20件)：
2G028AA01
, 2G028AA02
, 2G028AA03
, 2G028BB20
, 2G028BD00
, 2G028CG08
, 2G028CG15
, 2G028CG17
, 2G028CG22
, 2G028CG25
, 2G028DH11
, 2G028DH14
, 2G028EJ07
, 2G028FK01
, 2G028FK08
, 2G028FK09
, 2G028GL02
, 2G028GL07
, 2G028LR02
, 2G028MS02
