特許
J-GLOBAL ID:200903013172783007
スーパージャンクション構造を有する半導体装置とその製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人快友国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-075051
公開番号(公開出願番号):特開2007-251023
出願日: 2006年03月17日
公開日(公表日): 2007年09月27日
要約:
【課題】本発明の一つの目的は、深さ方向の広い範囲においてチャージバランスが確保されているスーパージャンクション構造を実現することである。本発明の他の一つの目的は、意図した深さでチャージバランスが確保されているスーパージャンクション構造を実現することである。【解決手段】n型コラム22とp型コラム24の間でチャージバランスが崩れている暫定スーパージャンクション構造を製造する工程と、暫定スーパージャンクション構造のチャージアンバランス量を特定する工程と、チャージアンバランス量を補償する濃度の不純物をn型コラム22および/またはp型コラム24に付加する工程を備えている。【選択図】図6
請求項(抜粋):
n型コラムとp型コラムが交互に繰り返し配置されているスーパージャンクション構造を有する半導体装置を製造する方法であって、
n型コラムとp型コラムの間でチャージバランスが崩れている暫定スーパージャンクション構造を製造する工程と、
暫定スーパージャンクション構造のチャージアンバランス量を特定する工程と、
チャージアンバランス量を補償する濃度の不純物をn型コラムおよび/またはp型コラムに付加する工程と、
を備えていることを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (2件):
FI (4件):
H01L29/78 652H
, H01L29/78 658A
, H01L29/78 658G
, H01L29/78 658E
引用特許:
出願人引用 (1件)
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電力用半導体素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-279463
出願人:株式会社東芝
審査官引用 (4件)
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半導体素子の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-058837
出願人:富士電機ホールディングス株式会社
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-055369
出願人:株式会社東芝
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半導体素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-314999
出願人:富士電機デバイステクノロジー株式会社
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-102505
出願人:株式会社デンソー
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