特許
J-GLOBAL ID:200903013413611245 高周波対応シミュレーション装置、高周波対応シミュレーション方法および高周波対応シミュレーションプログラム、並びに高周波対応シミュレーションプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
発明者:
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出願人/特許権者: 代理人 (1件):
酒井 宏明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-262265
公開番号(公開出願番号):特開2002-163321
出願日: 2001年08月30日
公開日(公表日): 2002年06月07日
要約:
【要約】【課題】 高周波対応の解析時間を短縮すること。【解決手段】 回路の設計情報に基づいて、配線パターンに対応する複数のエレメントに関するそれぞれの直流抵抗値と表皮抵抗値との和である抵抗値の総和を総抵抗値として算出し、この総抵抗値が第1のしきい値以上である場合、それぞれのエレメントに対応する抵抗値に対して、高周波エレメントディレイをキーとしてソートをかけ、さらに高周波エレメントディレイが小さい順に抵抗値を積算し、積算する毎に積算結果が第2のしきい値の直前に達しているか否かを判断する制御部2と、積算結果が第2のしきい値の直前に達している場合、積算された抵抗値に対応するエレメントをRLCモデルとするとともに、該エレメント以外のものを高周波エレメントモデルとして解析を実行するRLCモデル解析部6および高周波エレメントモデル解析部5とを備えている。
請求項(抜粋):
回路の設計情報に基づいて、配線パターンに対応する複数のエレメントを設定するエレメント設定手段と、前記複数のエレメントに関するそれぞれの直流抵抗値と表皮抵抗値との和である抵抗値の総和を総抵抗値として算出する抵抗値算出手段と、前記総抵抗値が第1のしきい値未満であるか否かを判断する第1の判断手段と、前記第1の判断手段の判断結果に基づいて、前記総抵抗値が前記第1のしきい値以上である場合、それぞれのエレメントに対応する抵抗値に対して、高周波エレメントディレイをキーとしてソートをかけるソート手段と、前記高周波エレメントディレイが小さい順に前記抵抗値を積算し、積算する毎に積算結果が第2のしきい値の直前に達しているか否かを判断する第2の判断手段と、前記第2の判断手段に基づいて、前記積算結果が前記第2のしきい値の直前に達している場合、積算された抵抗値に対応するエレメントをRLCモデルとするとともに、該エレメント以外のものを高周波エレメントモデルとして解析を実行する解析手段と、を備えたことを特徴とする高周波対応シミュレーション装置。
IPC (2件):
G06F 17/50 662
, G06F 17/50 666
FI (2件):
G06F 17/50 662 G
, G06F 17/50 666 L
Fターム (3件):
5B046AA08
, 5B046BA04
, 5B046JA04
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