特許
J-GLOBAL ID：200903016005507625

ATMスイッチの試験方法

発明者：
廣瀬 邦治

廣瀬 邦治 について


出願人/特許権者：
沖電気工業株式会社

沖電気工業株式会社 について


代理人 (1件)： 佐藤 幸男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-229178
公開番号（公開出願番号）：特開2001-053761
出願日： 1999年08月13日
公開日（公表日）： 2001年02月23日
要約：
【要約】【解決手段】 ATMスイッチ1は、入出力ポートp1P1〜p8P8を備える。外部物理リンク7は、各入出力ポートの出力ポートと入力ポートとの間を接続する。内部パス8は、各入力ポートから出力ポートに至る論理的なパスである。試験用セルジェネレータ3は、入力ポートからセルを入力し、このセルは、内部パス8と外部物理リンク7を通じて出力ポートに出力される。出力されたセルは評価装置5により評価される。【効果】 予め設定した試験用のコネクションによって、ATMスイッチ1を短時間で精密に試験できる。
請求項（抜粋）：
ATMスイッチの入力ポートと出力ポートとの間を接続する外部物理リンクと、前記ATMスイッチの内部で前記入力ポートと出力ポートとの間に形成された内部パスとにより、予め設定した試験用のコネクションを実現し、予め設定した入力ポートから試験用セルを入力し、予め設定した出力ポートから出力される前記試験用セルを監視して評価し、前記ATMスイッチの機能を試験することを特徴とするATMスイッチの試験方法。
IPC (4件)：
H04L 12/28 ,  H04L 12/26 ,  H04M 3/26 ,  H04Q 11/04
FI (4件)：
H04L 11/20 D ,  H04M 3/26 A ,  H04L 11/12 ,  H04Q 11/04 L
Fターム (19件)：
5K019AA06 ,  5K019AC09 ,  5K019BA03 ,  5K019BB32 ,  5K019CB01 ,  5K019CC14 ,  5K019CC16 ,  5K019CD08 ,  5K030GA14 ,  5K030HA10 ,  5K030HB11 ,  5K030HB29 ,  5K030JA10 ,  5K030MC03 ,  5K069BA10 ,  5K069DB41 ,  5K069FD02 ,  5K069FD03 ,  5K069HA00
引用特許：
審査官引用 (6件)
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