特許
J-GLOBAL ID：200903019245285866

疵検出方法及び装置

発明者：
小林 尊道

小林 尊道 について

, 
山地 宏尚

山地 宏尚 について


出願人/特許権者：
新日本製鐵株式会社

新日本製鐵株式会社 について


代理人 (4件)： 青木 篤 ,  鶴田 準一 ,  伊坪 公一 ,  西山 雅也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-220220
公開番号（公開出願番号）：特開2005-265828
出願日： 2004年07月28日
公開日（公表日）： 2005年09月29日
要約：
【課題】 検査対象のエッジ近傍の疵候補画像からエッジを正確に検出して、エッジ誤検出を防止する。【解決手段】 鋼板表面の疵候補画像から、所定のエッジ条件を満足する画素を抽出し補正してエッジ候補とする。得られたエッジ候補を含む画像に対して、エッジ候補を挟む両側の所定領域の画像の平均輝度を求めて行う平均輝度判定、又はエッジ候補を含む画像に対して2値化処理を行った後エッジ候補の分散値を求めて行う分散値判定を適用して、エッジか否かを判定する。エッジと判定された疵候補を除いて、その他の疵候補に対して疵種と有害度の判定を行う。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
検査対象の表面を撮像した画像の疵候補画像から、所定のエッジ条件を満足する画素を抽出し、前記検査対象のエッジ候補とするエッジ候補検出ステップと、 前記エッジ候補を含む画像に対して所定の判定手段を適用して前記検査対象のエッジか否かを判定するエッジ判定ステップと を有する疵検査方法。
IPC (7件)：
G01N21/892 ,  B21C51/00 ,  G01B11/30 ,  G06T1/00 ,  G06T3/40 ,  G06T5/00 ,  G06T7/60
FI (8件)：
G01N21/892 B ,  B21C51/00 P ,  G01B11/30 A ,  G06T1/00 300 ,  G06T3/40 ,  G06T5/00 200Z ,  G06T5/00 300 ,  G06T7/60 250Z
Fターム (58件)：
2F065AA12 ,  2F065AA49 ,  2F065AA61 ,  2F065BB11 ,  2F065BB15 ,  2F065CC06 ,  2F065DD04 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF42 ,  2F065GG03 ,  2F065HH02 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ25 ,  2F065MM03 ,  2F065PP16 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR06 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  2G051AA37 ,  2G051AB07 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EB01 ,  2G051EC03 ,  2G051ED22 ,  5B057AA17 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CD05 ,  5B057CE02 ,  5B057CE12 ,  5B057CH01 ,  5B057DA01 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096EA02 ,  5L096EA05 ,  5L096FA06 ,  5L096FA32 ,  5L096FA33
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (6件)
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