特許
J-GLOBAL ID：200903020793612725
チップ状電子部品の抵抗値測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
岩橋 文雄
, 坂口 智康
, 内藤 浩樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-345369
公開番号（公開出願番号）：特開2006-156724
出願日： 2004年11月30日
公開日（公表日）： 2006年06月15日
要約：
【課題】四端子を確実に電極に接触させて安定した抵抗値測定が可能となるチップ状電子部品の抵抗値測定方法を提供する。【解決手段】シート状の絶縁基板11に形成した第1、第2、第3、第4の電極12、13、14、15と、第1の電極12と第2の電極13との間に形成された第1の抵抗体16、第1の電極12と第3の電極14との間に形成された第2の抵抗体17、第2の電極13と第4の電極15との間に形成された第3の抵抗体18を有し、第1の電極12と第2の電極13のいずれか一方に高電位側電圧端子19を接触させ、第1の電極12と第2の電極13のいずれか他方に低電位側電圧端子20を接触させ、第3の電極14と第4の電極15のいずれか一方に高電位側電流端子21を接触させるとともに、第3の電極14と第4の電極15のいずれか他方に低電位側電流端子22を接触させて四端子測定法により第1の抵抗体16の抵抗値を測定するようにした。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
シート状の絶縁基板に形成した分割溝を跨ぐようにそれぞれ形成された第1の電極、第2の電極、第3の電極、第4の電極と、前記第1の電極と第2の電極との間に電気的に接続されるように形成された第1の抵抗体と、前記第1の電極と第3の電極との間に電気的に接続されるように形成された第2の抵抗体と、前記第2の電極と第4の電極との間に電気的に接続されるように形成された第3の抵抗体とを有し、前記第1の電極と第2の電極のいずれか一方に高電位側電圧端子を接触させるとともに、前記第1の電極と第2の電極のいずれか他方に低電位側電圧端子を接触させ、かつ前記第3の電極と第4の電極のいずれか一方に高電位側電流端子を接触させるとともに、前記第3の電極と第4の電極のいずれか他方に低電位側電流端子を接触させて、四端子測定法により前記第1の抵抗体の抵抗値を測定するようにしたチップ状電子部品の抵抗値測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
5E032BA04
, 5E032BB01
, 5E032CA01
, 5E032CB03
, 5E032TB02
出願人引用 (1件)
審査官引用 (9件)
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