特許
J-GLOBAL ID：200903022726481368
計測システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
和泉 良彦
, 小林 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-110753
公開番号（公開出願番号）：特開2005-292068
出願日： 2004年04月05日
公開日（公表日）： 2005年10月20日
要約：
【課題】 光学結晶の変位による感度の低下を抑制する。 【解決手段】 光源21からの光源出力直線偏光を光学結晶27に伝送し、光学結晶27を介して光源出力直線偏光を被測定物理量により偏光変調してサーキュレータ23により偏光調整器30に伝送し、偏光調整器30によって偏光変調光を任意偏光に変換し、任意偏光を偏光ビームスプリッタ34により直交する分離直線偏光に分離し、分離直線偏光をそれぞれ光検出器35、36により電気信号に変換し、電気信号を差動増幅器37により差動信号として出力し、差動信号をロックインアンプ38により被測定物理量の振幅信号と位相信号として出力し、光検出器35、36の光電流とロックインアンプ38からの振幅信号を制御信号処理部39に入力し、制御信号処理部39により光電流が等しくかつ振幅信号が最大となるように偏光調整器30を制御して任意偏光を調節する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
光源から出射された光源出力直線偏光が偏波保持ファイバによってサーキュレータを経由して光学結晶に伝送され、上記光学結晶を介して上記光源出力直線偏光が被測定物理量により偏光変調された後、偏光変調された偏光変調光が上記偏波保持ファイバに再入射され、上記サーキュレータにより偏光調整器に伝送され、上記偏光調整器によって上記偏光変調光が任意偏光に変換された後、上記任意偏光が偏光ビームスプリッタにより直交する第1、第2の分離直線偏光に分離され、上記第1、第2の分離直線偏光がそれぞれ第1、第2の光検出器により電気信号に変換され、上記電気信号が差動増幅器により差動信号として出力され、上記差動信号が電気信号測定器により上記被測定物理量の振幅信号と位相信号として出力される計測システムにおいて、上記第1、第2の光検出器の第1、第2の光電流と上記電気信号測定器からの上記振幅信号が制御信号処理部に入力され、上記制御信号処理部が上記第1、第2の光電流が等しくかつ上記振幅信号が最大となるように上記偏光調整器を制御して上記任意偏光を調節することを特徴とする計測システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R15/07 C
, G01R31/28 L
2G025AA12
, 2G025AB10
, 2G025AB11
, 2G025AC06
, 2G132AF15
, 2G132AL12
出願人引用 (3件)
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電気光学プロ-ブ
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-275383
出願人：安藤電気株式会社, 日本電信電話株式会社
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ミリ波イメージングシステム
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-229132
出願人：日本電信電話株式会社
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高周波電磁波検出方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願2001-199388
出願人：日本電信電話株式会社
審査官引用 (7件)
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