特許
J-GLOBAL ID:200903023075175790
光断層画像化装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
柳田 征史
, 佐久間 剛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-330877
公開番号(公開出願番号):特開2008-145187
出願日: 2006年12月07日
公開日(公表日): 2008年06月26日
要約:
【課題】光断層画像化装置において、高速に高分解能の断層画像を取得する。【解決手段】光源ユニット10から、波長帯域1.0μm〜1.5μm内で、波長が繰り返し掃引される光Laと、波長帯域0.6μm〜1.1μm内で、波長が繰り返し掃引される光Lbとを同時に射出する。分波手段3は光La、Lbをそれぞれ測定光L1a、L1bと参照光L2a、L2bとに分割する。合波手段5は、測定光L1a、L1bが測定対象Sに照射されたときの反射光L3a、L3bと参照光L2a、L2bとを合波する。波長分割手段30は、このとき生じた干渉光L4aと干渉光L4bの波長帯域を0.9μm以下、0.9μm〜1.2μm以下、1.2μmより長波長の3つの波長帯域に分割して干渉信号を取得する。光Laと光Lbとで波長が重複している重複波長帯域を含む0.9μm〜1.2μm以下の波長帯域においては、光源10aまたは光源10bの一方の光源のみから光が射出される。【選択図】図1
請求項(抜粋):
第1の波長帯域内で波長が繰り返し掃引される第1の光を射出する第1の光源と、前記第1の波長帯域と波長帯域が異なる第2の波長帯域内で波長が繰り返し掃引される第2の光を射出する第2の光源とを有し、前記第1の光の掃引の一部と第2の光の掃引の一部とが同時に行なわれる光源ユニットと、
前記第1の光および第2の光をそれぞれ第1および第2の測定光と第1および第2の参照光とに分割する光分割手段と、
該分割手段により分割された前記第1および第2の測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光である第1および第2の反射光と前記第1および第2の参照光とをそれぞれ合波する合波手段と、
該合波手段により前記第1の反射光と前記第1の参照光とが合波されたときに生ずる第1の干渉光と前記合波手段により前記第2の反射光と前記第2の参照光とが合波されたときに生ずる第2の干渉光とを、少なくとも前記第1の波長帯域の一部および前記第2の波長帯域の一部を含む第3の波長帯域と、該第3の波長帯域より短波長側へずれた第4の波長帯域と、前記第3の波長帯域より長波長側へずれた第5の波長帯域とに分割する波長分割手段と、
前記第3の波長帯域内の干渉光を第1の干渉信号として検出する第1の干渉光検出手段と、前記第4の波長帯域内の干渉光を第2の干渉信号として検出する第2の干渉光検出手段と、前記第5の波長帯域内の干渉光を第3の干渉信号として検出する第3の干渉光検出手段と、
前記第1、第2および第3の干渉光検出手段により検出された前記第1、第2および第3の干渉信号を用いて前記測定対象の断層画像を生成する断層画像処理手段とを備えた事を特徴とする光断層画像化装置。
IPC (4件):
G01N 21/17
, A61B 1/00
, G01B 11/24
, G01B 9/02
FI (4件):
G01N21/17 625
, A61B1/00 300D
, G01B11/24 D
, G01B9/02
Fターム (72件):
2F064AA09
, 2F064EE01
, 2F064EE04
, 2F064FF01
, 2F064FF08
, 2F064GG00
, 2F064GG02
, 2F064GG12
, 2F064GG13
, 2F064GG22
, 2F064GG24
, 2F064HH01
, 2F064HH06
, 2F064JJ15
, 2F065AA52
, 2F065AA53
, 2F065AA60
, 2F065BB08
, 2F065CC16
, 2F065FF52
, 2F065GG04
, 2F065GG25
, 2F065JJ01
, 2F065JJ05
, 2F065JJ18
, 2F065LL00
, 2F065LL02
, 2F065LL12
, 2F065LL20
, 2F065LL46
, 2F065MM07
, 2F065MM08
, 2F065NN06
, 2F065PP01
, 2F065PP05
, 2F065QQ00
, 2F065QQ03
, 2F065QQ16
, 2F065QQ17
, 2F065SS02
, 2F065SS13
, 2G059AA05
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059EE11
, 2G059EE12
, 2G059FF02
, 2G059GG01
, 2G059GG03
, 2G059HH01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ12
, 2G059JJ13
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK03
, 2G059MM01
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 4C061BB08
, 4C061CC06
, 4C061FF46
, 4C061FF47
, 4C061HH51
, 4C061LL10
, 4C061NN05
, 4C061NN10
, 4C061SS21
, 4C061VV03
引用特許:
出願人引用 (11件)
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審査官引用 (9件)
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表示装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-330876
出願人:三星電子株式会社
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特開平4-015542
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光断層イメージング装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-319850
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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