特許
J-GLOBAL ID:200903023291702894

微細回路配線形成方法およびこれに用いる装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小野 信夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-141230
公開番号(公開出願番号):特開2003-328184
出願日: 2002年05月16日
公開日(公表日): 2003年11月19日
要約:
【要約】【課題】 銅めっきで形成される微細な銅配線から、銅原子そのものの移動を鈍化・抑制させ、マイグレーションを防ぐ手段を提供すること。【解決手段】 微細な回路パターンが設けられ、バリア層および必要によりシード層が形成された電子回路用基板上に、銅の中に拡散可能な金属を含むめっき(但し、銅との合金めっきを除く)による第1めっき層と、銅めっきによる第2めっき層を形成することを特徴とする微細回路配線の形成方法。
請求項(抜粋):
微細な回路パターンが設けられ、バリア層および必要によりシード層が形成された電子回路用基板上に、銅の中に拡散可能な金属を含むめっき(但し、銅との合金めっきを除く)による第1めっき層と、銅めっきによる第2めっき層を形成することを特徴とする微細回路配線の形成方法。
IPC (6件):
C25D 7/12 ,  C25D 5/10 ,  C25D 7/00 ,  H01L 21/288 ,  H01L 21/3205 ,  H05K 3/18
FI (7件):
C25D 7/12 ,  C25D 5/10 ,  C25D 7/00 J ,  H01L 21/288 E ,  H05K 3/18 G ,  H01L 21/88 R ,  H01L 21/88 M
Fターム (78件):
4K024AA03 ,  4K024AA09 ,  4K024AA10 ,  4K024AA12 ,  4K024AA14 ,  4K024AB02 ,  4K024BA15 ,  4K024BB11 ,  4K024BB12 ,  4K024CA01 ,  4K024CA04 ,  4K024CA06 ,  4K024DA04 ,  4K024DB02 ,  4M104BB04 ,  4M104BB05 ,  4M104BB06 ,  4M104BB07 ,  4M104BB08 ,  4M104BB16 ,  4M104BB17 ,  4M104BB30 ,  4M104BB32 ,  4M104BB33 ,  4M104BB36 ,  4M104DD52 ,  4M104DD53 ,  4M104DD63 ,  4M104DD75 ,  4M104DD79 ,  4M104DD83 ,  4M104FF16 ,  4M104FF22 ,  4M104HH01 ,  5E343AA23 ,  5E343BB17 ,  5E343BB24 ,  5E343BB25 ,  5E343BB34 ,  5E343BB39 ,  5E343BB40 ,  5E343BB44 ,  5E343BB45 ,  5E343BB49 ,  5E343DD33 ,  5E343DD43 ,  5E343ER23 ,  5E343ER33 ,  5E343ER39 ,  5E343GG08 ,  5E343GG14 ,  5F033HH12 ,  5F033HH15 ,  5F033HH21 ,  5F033HH27 ,  5F033HH32 ,  5F033HH33 ,  5F033HH34 ,  5F033JJ12 ,  5F033JJ15 ,  5F033JJ21 ,  5F033JJ27 ,  5F033JJ32 ,  5F033JJ33 ,  5F033JJ34 ,  5F033MM02 ,  5F033MM12 ,  5F033MM13 ,  5F033NN06 ,  5F033NN07 ,  5F033PP15 ,  5F033PP27 ,  5F033PP28 ,  5F033QQ48 ,  5F033QQ69 ,  5F033QQ73 ,  5F033XX05 ,  5F033XX06
引用特許:
審査官引用 (9件)
全件表示

前のページに戻る