特許
J-GLOBAL ID:200903032720102093

品質検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 川合 誠
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-391075
公開番号(公開出願番号):特開2002-189021
出願日: 2000年12月22日
公開日(公表日): 2002年07月05日
要約:
【要約】【課題】生産ライン上を搬送されるすべての被検体について品質検査を行うことができるようにする。【解決手段】被検体を搬送する搬送手段と、前記被検体の所定の部分と対向させて、かつ、被検体と所定の距離を置いて配設され、被検体に検査電圧を印加する第1の電極と、前記被検体に接触するように配設された第2の電極と、前記被検体が搬送されている状態において、第2の電極に流れるフィードバック電流に基づいて、被検体に損傷が発生したかどうかを検査する分析処理手段とを有する。この場合、前記被検体が搬送されている状態において、第2の電極に流れるフィードバック電流に基づいて、被検体に損傷が発生したかどうかが検査されるので、生産ライン上を搬送されるすべての被検体について良品と不良品との判定を行うことができる。
請求項(抜粋):
(a)被検体を搬送する搬送手段と、(b)前記被検体の所定の部分と対向させて、かつ、被検体と所定の距離を置いて配設され、被検体に検査電圧を印加する第1の電極と、(c)前記被検体に接触するように配設された第2の電極と、(d)前記被検体が搬送されている状態において、第2の電極に流れるフィードバック電流に基づいて、被検体に損傷が発生したかどうかを検査する分析処理手段とを有することを特徴とする品質検査装置。
IPC (3件):
G01N 27/92 ,  B65B 57/00 ,  B65B 57/02
FI (3件):
G01N 27/92 A ,  B65B 57/00 A ,  B65B 57/02 D
引用特許:
審査官引用 (7件)
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