特許
J-GLOBAL ID：200903033067836058
テストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびテストシナリオ作成のためのプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-298744
公開番号（公開出願番号）：特開2006-112852
出願日： 2004年10月13日
公開日（公表日）： 2006年04月27日
要約：
【課題】 複雑な条件に即したテストシナリオを容易に作成できるテストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびプログラムを提供する。【解決手段】 複数の生成アルゴリズムに従って、状態遷移表に基づく複数のシナリオを生成するステップと、生成された前記複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るステップと、によりテストシナリオを作成する。複数のシナリオを生成するステップでは、通過する経路の順番を考慮したすべての組み合わせのシナリオを生成する生成アルゴリズムを用いることができる。あるいは、開始状態から1つずつイベントを発生するシナリオを生成する生成アルゴリズムを用いることができる。複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るステップでは、特定の状態で終わるシナリオと、その特定の状態から始まるシナリオとを結合する加工アルゴリズムを用いることができる。あるいは、経路が重複するシナリオを削除する加工アルゴリズムを用いることができる。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
状態遷移表に基づいてテストシナリオを作成するテストシナリオ作成方法において、
複数の生成アルゴリズムに従って、状態遷移表に基づく複数のシナリオを生成するステップと、
生成された前記複数のシナリオを組み合わせてテストシナリオを得るステップと、
を備えることを特徴とするテストシナリオ作成方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R31/28 Q
, G01R31/28 H
2G132AA00
, 2G132AE18
, 2G132AE23
, 2G132AL00
出願人引用 (1件)
審査官引用 (8件)
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