特許
J-GLOBAL ID:200903033957858849

マイクロチップおよびマイクロチップの製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  野田 久登 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-143606
公開番号(公開出願番号):特開2008-298526
出願日: 2007年05月30日
公開日(公表日): 2008年12月11日
要約:
【課題】表面処理剤等の液状物の塗布状態あるいは付着状態を容易に検査可能であり、しかも蛍光等の外乱を生じさせることなく、正確な光学測定を行なうことができるマイクロチップを提供する。【解決手段】表面に少なくとも1つの凹部を有する第1の基板と、第2の基板とを貼り合わせてなるマイクロチップであって、該第1の基板における、該凹部を有する側の表面上の少なくとも一部には、高さ0.5〜30μmの微細凹凸が形成されており、該微細凹凸が形成された表面上に表面処理剤からなる塗膜を有するマイクロチップおよびその製造方法。【選択図】図1
請求項(抜粋):
表面に少なくとも1つの凹部を有する第1の基板と、第2の基板とを貼り合わせてなるマイクロチップであって、 前記第1の基板における、前記凹部を有する側の表面上の少なくとも一部には、高さ0.5〜30μmの微細凹凸が形成されており、 前記微細凹凸が形成された表面上の少なくとも一部に表面処理剤からなる塗膜を有する、マイクロチップ。
IPC (1件):
G01N 37/00
FI (1件):
G01N37/00 101
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (8件)
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