特許
J-GLOBAL ID：200903034537001043

金属材料中欠陥径の推定方法

発明者：
佐藤海広

佐藤海広 について


出願人/特許権者：
山陽特殊製鋼株式会社

山陽特殊製鋼株式会社 について


代理人 (1件)： 岸田 正行 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-289021
公開番号（公開出願番号）：特開2002-098674
出願日： 2000年09月22日
公開日（公表日）： 2002年04月05日
要約：
【要約】【課題】 最近の冶金技術の向上に対応し、鋼などの金属材料の清浄度の大幅な改善に対応した、迅速かつ簡便な金属材料中欠陥径の推定方法を提供することを課題とする。【解決手段】 超音波探傷により、所定の探傷走査ピッチで検査試料中の欠陥の位置を検出する粗探傷を行った後、前記粗探傷よりも探傷走査ピッチを狭くして精密探傷を行い、精密探傷により所定の閾値以上の反射波強度を示す探触子の移動距離を欠陥信号径として検出し、検出された欠陥信号径に対応する欠陥径の大きさに応じ下記式(I)または(II)により欠陥信号径から欠陥径を求める、金属材料中欠陥径の推定方法。欠陥径が超音波ビームの径以下の場合、da = α・di + β ・・・(I)欠陥径が超音波ビームの径以上の場合、da = di - γ ・・・(II)ただし、da:欠陥径、di:欠陥信号径、α、β、γ:それぞれ定数。
請求項（抜粋）：
超音波探傷により金属材料中の欠陥径を検出する方法であって、所定の探傷走査ピッチで検査試料中の欠陥の位置を検出する粗探傷を行った後、前記粗探傷よりも探傷走査ピッチを狭くして精密探傷を行い、精密探傷により所定の閾値以上の反射波強度を示す探触子の移動距離を欠陥信号径として検出し、検出された欠陥信号径に対応する欠陥径の大きさに応じ下記式(I)または(II)により欠陥信号径から欠陥径を求める、金属材料中欠陥径の推定方法。欠陥径が超音波ビームの径以下の場合、da = α・di + β ・・・(I)欠陥径が超音波ビームの径以上の場合、da = di - γ ・・・(II)ただし、da:欠陥径di:欠陥信号径α、β、γ:それぞれ定数
Fターム (9件)：
2G047AA07 ,  2G047BC03 ,  2G047BC10 ,  2G047EA09 ,  2G047GF31 ,  2G047GG36 ,  2G047GG37 ,  2G047GG42 ,  2G047GJ22
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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