特許
J-GLOBAL ID：200903034943725966

誘電体磁器の評価方法

発明者：
水木 純一郎

水木 純一郎 について

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西畑 保雄

西畑 保雄 について

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安川 勝正

安川 勝正 について

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西村 道明

西村 道明 について


出願人/特許権者：
独立行政法人 日本原子力研究開発機構

独立行政法人 日本原子力研究開発機構 について

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京セラ株式会社

京セラ株式会社 について


代理人 (1件)： 深井 敏和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-330250
公開番号（公開出願番号）：特開2006-137647
出願日： 2004年11月15日
公開日（公表日）： 2006年06月01日
要約：
【課題】X線回折を利用して、コアシェル構造を具備する誘電体磁器におけるコア部とシェル部の結晶相について体積分率とシェル部の厚みの定量を可能とし、これにより材料の平均的な情報、特に微構造情報を取得できるようにした誘電体磁器の評価方法を提供することを課題とする。【解決手段】コアシェル構造を具備するペロブスカイト型結晶粒子からなる誘電体磁器の誘電体多結晶表面にX線を照射し、前記ペロブスカイト結晶における正方晶の(h k l)と、立方晶の(h' k' l')の回折強度を測定し、明細書に記載の特定式からコア部1(正方晶部分)とシェル部2(立方晶部分)の結晶相の体積分率を定量すると共に、前記ペロブスカイト結晶における立方晶の(h' k' l')の回折強度におけるピーク半値幅を測定し、明細書に記載の特定式からシェル部の厚みを算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
コアシェル構造を具備するペロブスカイト型結晶粒子からなる誘電体磁器の誘電体多結晶表面にX線を照射し、前記ペロブスカイト結晶における正方晶の(h k l)と、立方晶の(h' k' l')の回折強度を測定し、下記式(1)からコア部(正方晶部分)とシェル部(立方晶部分)の結晶相の体積分率を算出することを特徴とする、X線回折法を利用する誘電体磁器の評価方法。
IPC (1件)：
C04B 35/46
FI (1件)：
C04B35/46 D
Fターム (15件)：
4G031AA02 ,  4G031AA03 ,  4G031AA06 ,  4G031AA07 ,  4G031AA08 ,  4G031AA11 ,  4G031AA19 ,  4G031AA30 ,  4G031BA09 ,  4G031CA01 ,  4G031CA03 ,  4G031CA04 ,  4G031CA08 ,  4G031GA01 ,  4G031GA03
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (8件)
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