特許
J-GLOBAL ID:200903035508900418

疲労状態解析装置及び疲労状態解析プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大熊 岳人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-154723
公開番号(公開出願番号):特開2006-329837
出願日: 2005年05月26日
公開日(公表日): 2006年12月07日
要約:
【課題】 測定対象物の摩耗を考慮して疲労寿命を定量的に評価し管理することができる疲労状態解析装置及び疲労状態解析プログラムを提供する。【解決手段】 S300において、ひずみ波形からひずみ振幅及び平均ひずみをひずみ振幅/平均ひずみ抽出部が抽出し、S400においてひずみ振幅及び平均ひずみに基づいて等価応力演算部が等価応力を演算する。S500において、等価S-N曲線が読み出されて、S600においてこの等価S-N曲線及び等価応力に基づいて累積疲労損傷度を累積疲労損傷度演算部が演算する。S700において、トロリ線の疲労状態を疲労状態判定部が判定する。その結果、例えば、トロリ線の実働波形に含まれる平均ひずみを考慮してトロリ線の疲労状態を解析することができるため、トロリ線の摩耗を考慮して疲労寿命を定量的に評価し管理することができる。【選択図】 図8
請求項(抜粋):
測定対象物の疲労状態を解析する疲労状態解析装置であって、 前記測定対象物のひずみの時間変化を表すひずみ波形に基づいて、ひずみ振幅と平均ひずみとを抽出するひずみ振幅/平均ひずみ抽出部と、 前記ひずみ振幅と前記平均ひずみとに基づいて等価応力を演算する等価応力演算部と、 前記等価応力と等価S-N曲線とに基づいて前記測定対象物の累積疲労損傷度を演算する累積疲労損傷度演算部と、 を備える疲労状態解析装置。
IPC (1件):
G01N 3/34
FI (1件):
G01N3/34 C
Fターム (9件):
2G061AA07 ,  2G061AB05 ,  2G061BA15 ,  2G061CA01 ,  2G061CB05 ,  2G061DA11 ,  2G061EA03 ,  2G061EA04 ,  2G061EC02
引用特許:
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (10件)
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引用文献:
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