特許
J-GLOBAL ID:200903036204410534

ヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高田 幸彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-000007
公開番号(公開出願番号):特開2007-183106
出願日: 2006年01月04日
公開日(公表日): 2007年07月19日
要約:
【課題】微小なRF信号検出を容易かつ確実に行うことのできるヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡、更にはこの走査プローブ顕微鏡によるへテロダインビート信号の特定方法を提供する。【解決手段】既知の外部重畳参照高周波(RF)信号もしくは外部重畳参照電磁波信号および未知の高周波信号もしくは電磁波信号を走査プローブ顕微鏡(SPM)にセットされた試料と該試料に対向する探針との間に付与し、外部重畳参照高周波信号もしくは外部重畳参照電磁波信号を未知の高周波信号もしくは電磁波信号に干渉させてヘテロダインビート信号を発生させる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
既知の外部重畳参照高周波(RF)信号もしくは外部重畳参照電磁波信号および未知の高周波信号もしくは電磁波信号を走査プローブ顕微鏡(SPM)にセットされた試料と該試料に対向する探針に付与し、外部重畳参照高周波信号もしくは外部重畳参照電磁波信号を未知の高周波信号もしくは電磁波信号に干渉させてヘテロダインビート信号を発生させることを特徴とするヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡。
IPC (3件):
G01N 13/12 ,  G01B 7/00 ,  G01N 13/10
FI (3件):
G01N13/12 A ,  G01B7/00 101Z ,  G01N13/10 F
Fターム (5件):
2F063AA02 ,  2F063DA01 ,  2F063DA05 ,  2F063EA16 ,  2F063FA07
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)
引用文献:
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