特許
J-GLOBAL ID:200903038359135664

眼科学機器に適用される眼の収差を補正する方法及びシステム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 竹下 和夫
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-526519
公開番号(公開出願番号):特表2009-504294
出願日: 2005年08月18日
公開日(公表日): 2009年02月05日
要約:
【課題】分析光ビーム(FA)で作動する眼科学機器に適用される、眼の収差を補正する方法を提供することを課題とする。【解決手段】本発明に係る方法は、分析光ビーム(FA)に干渉可能な眼の収差を測定する工程と、収差に関して測定された値の関数として分析ビームの波面位相を補正する工程と、収差の測定と別個に実施する、眼の動きを測定する工程と、眼の動きの測定の関数として、分析ビームの波面位相の補正を修正するための工程とを含んでいる。
請求項(抜粋):
分析光ビームに干渉可能な眼の収差を測定する工程と、前記収差の測定値の関数として前記分析光ビームの波面の位相を補正する工程を含む、分析光ビーム(FA)で作動する眼科学機器に適用される、眼の収差を補正する方法であって、該方法が、 前記収差の測定とは別個に実施する、眼球運動を測定する工程と、 眼球運動の前記測定の関数として前記分析光ビームの波面の位相の補正を修正する工程を更に含んでいることを特徴とする、眼の収差を補正する方法。
IPC (3件):
A61B 3/10 ,  A61B 3/113 ,  A61B 3/12
FI (4件):
A61B3/10 M ,  A61B3/10 R ,  A61B3/10 B ,  A61B3/12 E
引用特許:
審査官引用 (9件)
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