特許
J-GLOBAL ID：200903041313049241
品質解析方法、品質解析装置、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-203706
公開番号（公開出願番号）：特開2007-188471
出願日： 2006年07月26日
公開日（公表日）： 2007年07月26日
要約：
【課題】複数工程での処理を経て生産される製品に品質欠陥が発生したときに、簡潔な処理で精度良く原因工程を推定し、改善案を提示する。【解決手段】データソート部103において品質上の欠陥が生じた製品に対して、工程ごとに前記製品の前後に処理された複数製品の品質に関するデータを、処理順序に従って一定製品個数分だけ並べ、欠陥類似度計算部104において、解析対象とする各製品の品質上の欠陥の、前記製品の品質上の欠陥との類似度を評価、計算し、原因工程推定部105において、前記欠陥類似度の高い製品が最も高い連続性をもって発生している工程を原因工程であると推定する。さらに、推定結果に基づいて、品質改善事例蓄積部107から改善案を検索して提示する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
製造工場において複数工程での処理を経て生産される製品の品質上の欠陥について原因工程を推定し、原因を除去する方法を提示する品質解析方法であって、
品質上の欠陥が生じた製品(基準製品)に対して、工程ごとに前記基準製品の前後に処理された複数製品の品質に関するデータを入力するデータ入力ステップと、
前記データ入力ステップにて入力した前記品質に関するデータを蓄積、保存するデータ蓄積ステップと、
工程ごとに、前記基準製品の前及び後の少なくともいずれか一方に処理された前記複数製品の品質に関するデータを、処理順序に従って一連の所定の製品個数分だけ並べて解析対象データを得るデータソートステップと、
前記解析対象データについて、各製品の品質上の欠陥と前記基準製品の品質上の欠陥との欠陥類似度を評価、計算する欠陥類似度計算ステップと、
前記欠陥類似度の高い製品が最も高い連続性をもって発生している工程を原因工程であると推定する原因工程推定ステップと、
前記製品の品質上の欠陥と前記原因工程の推定結果とに基づいて、過去の品質欠陥改善事例データベースから改善案を検索する品質改善事例検索ステップと、
前記品質改善事例検索ステップの検索結果から前記改善案を出力して提示する出力・表示ステップとを有することを特徴とする品質解析方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
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