特許
J-GLOBAL ID:200903042823471084
接着シート、一体型シート、半導体装置、及び半導体装置の製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (6件):
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 川又 澄雄
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-216343
公開番号(公開出願番号):特開2008-081734
出願日: 2007年08月22日
公開日(公表日): 2008年04月10日
要約:
【課題】配線やワイヤ等に起因する凹凸の充てん性が優れ、また、凹凸の充てん時にチップ端部からの樹脂のはみだしが少ない、さらには耐熱性や耐湿性を満足する接着シート、一体型シート、半導体装置、及び半導体装置の製造方法を提供する。【解決手段】半導体チップと接着シートを積層した接着シート付き半導体チップを、凹凸または中空ワイヤ配線を有する基板または半導体チップに、速度0.01〜200mm/s、荷重0.001〜1MPaで接着、積層するために使用する、厚さが10〜100μmの接着シートであって、硬化前の70°Cでのずり弾性率測定において、ひずみ量1%の場合の貯蔵弾性率G’(1%)、ひずみ量10%の場合の貯蔵弾性率G’(10%)の比G’(1%)/G’(10%)が1.2〜100であり、硬化前の70°Cで剪断速度0.1(s-1)、ひずみ量0.4%の条件で測定した場合の溶融粘度が100Pa・s〜25万Pa・sである接着シート。【選択図】なし
請求項(抜粋):
硬化前の70°Cでのずり弾性率測定において、ひずみ量1%の貯蔵弾性率G1、ひずみ量10%の貯蔵弾性率G10の比G1/G10が1.2〜100であり、硬化前の70°Cでの剪断速度0.1(s-1)、ひずみ量0.4%の条件で測定した溶融粘度が100Pa・s〜25万Pa・sであることを特徴とする接着シート。
IPC (5件):
C09J 7/00
, H01L 21/52
, C09J 163/00
, C09J 7/02
, H01L 21/301
FI (5件):
C09J7/00
, H01L21/52 E
, C09J163/00
, C09J7/02 Z
, H01L21/78 M
Fターム (31件):
4J004AA12
, 4J004AA13
, 4J004CE01
, 4J004FA04
, 4J004FA05
, 4J004FA08
, 4J040EB031
, 4J040EB051
, 4J040EC061
, 4J040EC071
, 4J040EC081
, 4J040EC121
, 4J040HA136
, 4J040HA156
, 4J040HA306
, 4J040HB22
, 4J040HB35
, 4J040HB36
, 4J040HB38
, 4J040HC01
, 4J040JA09
, 4J040KA16
, 4J040KA42
, 4J040LA01
, 4J040MA10
, 4J040MA11
, 4J040MB03
, 4J040NA20
, 5F047BA21
, 5F047BB03
, 5F047BB19
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (2件)
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