特許
J-GLOBAL ID:200903044450591273
半導体デバイスにおけるレベル内またはレベル間誘電体としての超低誘電率材料を製造するための改良した方法およびこれによって作成される電子デバイス
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
上野 剛史
, 太佐 種一
, 市位 嘉宏
, 坂口 博
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-511362
公開番号(公開出願番号):特表2007-536733
出願日: 2005年03月23日
公開日(公表日): 2007年12月13日
要約:
【課題】 誘電率が低く、熱安定性を有する誘電材料を提供する。 【解決手段】 プラズマ化学気相成長(PECVD)プロセスを利用して、平行板化学気相成長プロセスにおいて、Si、C、O、およびH原子を含む熱的に安定した超低誘電率膜を製造するための方法を開示する。更に、この方法によって作成された熱的に安定した超低誘電率材料の絶縁層を含む電子デバイスを開示する。熱的に安定した超低誘電率膜の製造を可能とするため、例えばジエトキシメチルシラン(DEMS)のようなシラン誘導体、および、例えばビシクロヘプタジエンおよび酸化シクロペンテンのような有機分子等、特定の前駆物質材料を用いる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
超低誘電率膜を製造するための方法であって、
分子式SiRR’R’ ’R ’ ’ ’を有する第1の前駆ガスを、プラズマ化学気相成長(PECVD)リアクタのチャンバ内に流すステップであって、R、R’、R’ 、’R ’ ’ ’は、同一であるかまたは互いに異なり、H、アルキル、およびアルコキシのいずれかである、ステップと、
以下の式の1つを有する第2の前駆ガスを前記チャンバ内に流すステップであって、
IPC (4件):
H01L 21/312
, H01L 21/768
, H01L 23/522
, C23C 16/42
FI (4件):
H01L21/312 M
, H01L21/90 S
, H01L21/90 P
, C23C16/42
Fターム (66件):
4K030AA06
, 4K030AA09
, 4K030BA27
, 4K030BA48
, 4K030BB12
, 4K030CA04
, 4K030DA08
, 4K030DA09
, 4K030FA03
, 4K030GA01
, 4K030JA03
, 4K030JA05
, 4K030JA06
, 4K030JA09
, 4K030JA10
, 4K030JA16
, 4K030KA08
, 4K030LA02
, 4K030LA15
, 5F033HH04
, 5F033HH08
, 5F033HH11
, 5F033HH26
, 5F033HH28
, 5F033HH30
, 5F033HH32
, 5F033JJ01
, 5F033JJ04
, 5F033JJ08
, 5F033JJ11
, 5F033JJ32
, 5F033KK04
, 5F033KK08
, 5F033KK11
, 5F033QQ09
, 5F033QQ10
, 5F033QQ13
, 5F033QQ25
, 5F033QQ48
, 5F033QQ49
, 5F033RR01
, 5F033RR04
, 5F033RR05
, 5F033RR06
, 5F033RR08
, 5F033RR14
, 5F033RR15
, 5F033RR21
, 5F033SS01
, 5F033SS03
, 5F033SS15
, 5F033TT04
, 5F033WW00
, 5F033WW01
, 5F033WW03
, 5F033WW04
, 5F033WW05
, 5F033WW06
, 5F033WW07
, 5F033WW09
, 5F033XX19
, 5F033XX24
, 5F058AD05
, 5F058AD09
, 5F058AF01
, 5F058AH02
引用特許:
出願人引用 (13件)
-
米国特許第6,312,793号
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米国特許第6,441,491号
-
米国特許第6,541,398号
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審査官引用 (2件)
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