特許
J-GLOBAL ID:200903044957620607
半導体複合基板とそれを用いた半導体装置の製造方法
発明者:
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
佐藤 勝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-280844
公開番号(公開出願番号):特開2007-095845
出願日: 2005年09月27日
公開日(公表日): 2007年04月12日
要約:
【目的】 窒化物化合物半導体層を含む半導体層を成長する基板から良好に剥離でき、量産性に優れた半導体複合基板とその半導体複合基板を用いた半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。【解決手段】 本発明の半導体複合基板は、所定のエッチング液に対して耐性を有する第1の基板と、前記第1の基板上に形成され前記所定のエッチング液により除去可能とされる除去可能層と、前記除去可能層上に形成され前記所定のエッチング液に対して耐性を有する窒化物化合物半導体層とを有することを特徴とする。レーザーリフトオフ法などを用いることを必要とせずに、窒化物化合物半導体層を含む半導体層を成長する基板から良好に剥離でき、半導体装置の製造を量産性に優れたものとすることができる。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
所定のエッチング液に対して耐性を有する第1の基板と、
前記第1の基板上に形成され前記所定のエッチング液により除去可能とされる除去可能層と、
前記除去可能層上に形成され前記所定のエッチング液に対して耐性を有する窒化物化合物半導体層とを有することを特徴とする半導体複合基板。
IPC (2件):
FI (2件):
H01L33/00 C
, H01S5/323 610
Fターム (21件):
5F041CA04
, 5F041CA05
, 5F041CA33
, 5F041CA34
, 5F041CA40
, 5F041CA41
, 5F041CA46
, 5F041CA65
, 5F041CA74
, 5F041CA77
, 5F173AG12
, 5F173AG20
, 5F173AH22
, 5F173AH44
, 5F173AH48
, 5F173AP05
, 5F173AP32
, 5F173AP36
, 5F173AP37
, 5F173AQ02
, 5F173AR94
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (5件)
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