特許
J-GLOBAL ID：200903045292686853

光学部品テスタ

発明者：
エドガー・レッケル

エドガー・レッケル について

, 
ヘルミュット・センネヴァルド

ヘルミュット・センネヴァルド について


出願人/特許権者：
ヒューレット・パッカード・カンパニー

ヒューレット・パッカード・カンパニー について


代理人 (1件)： 古谷 馨 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-109099
公開番号（公開出願番号）：特開2000-035376
出願日： 1999年04月16日
公開日（公表日）： 2000年02月02日
要約：
【要約】【課題】 波長依存性の光学部品の特性を明らかにするための改良された測定装置を提供すること。【解決手段】 光学部品(100)の波長依存特性を決定するための光学部品テスタ(10)。該テスタは、前記光学部品(100)に刺激信号を加えるためのチューナブルレーザ源(20)と、該刺激信号に関する前記光学部品(100)の応答を受信するための1つ又は2つ以上の応答装置(80A〜80Z)とを機能ユニットとして備えている。該テスタは更に、前記機能ユニットに接続されてその機能を制御する制御ユニット(60)を備えている。前記機能ユニットは好適には信号プロセッサ(170)に接続されたマイクロコントローラ(150)を備え、これにより、該信号プロセッサが、機能ユニットに接続され、該テスタにおける全てのタイミングクリティカル操作の処理を責務とするものとなる。
請求項（抜粋）：
光学部品(100)の波長依存特性を決定するための光学部品テスタ(10)であって、前記光学部品(100)に刺激信号を加えるためのチューナブルレーザ源(20)と、前記刺激信号に関する前記光学部品(100)の応答を受信するための1つ又は2つ以上の応答装置(80A〜80Z)とを機能ユニット(20〜40,80)として備え、前記機能ユニット(20〜40,80)に接続されて該機能ユニットの機能を制御する制御ユニット(60)を備えており、前記機能ユニット(20〜40,80)に接続されると共に該テスタ(10)におけるタイミングクリティカル操作の処理を責務とする信号プロセッサ(170)を前記制御ユニット(60)が備えていることを特徴とする、光学部品テスタ。
引用特許：
審査官引用 (19件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM